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Phenom XL大樣品室版電子顯微鏡

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產(chǎn)品型號(hào)Phenom XL

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更新時(shí)間：2024-05-30 10:08:18瀏覽次數(shù)：137次

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  電子顯微鏡

Phenom Pro高分辨率專業(yè)版

PhenomXL大樣品室版

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Phenom XL 大樣品室版電子顯微鏡把臺(tái)式電鏡的性能再次提升到了一個(gè)新臺(tái)階。而且，它依然具備 Phenom 系列簡(jiǎn)單易用、快速成像的優(yōu)勢(shì)。它配備有*的樣品室，Z大可以容納長(zhǎng)、寬各為 10 厘米的樣品。的出倉(cāng)/載樣設(shè)計(jì)確保了世界上Z快的出倉(cāng)/載樣流程，Z快的平均測(cè)樣速度。新開發(fā)的集成化樣品臺(tái)使用戶可以瀏覽整個(gè)樣品區(qū)域。

詳細(xì)介紹

大樣品室版電子顯微鏡	大樣品室版電子顯微鏡Phenom Pro	Phenom ProX	Phenom XL
光學(xué)放大	20 - 135 X	20 - 135 X	3 - 16 X
電子光學(xué)放大	80 - 150,000 X	80 - 150,000 X	80 - 100,000 X
分辨率	優(yōu)于 8 nm	優(yōu)于 8 nm	優(yōu)于 14 nm
數(shù)字放大	Max. 12 X	Max. 12 X	Max. 12 X
光學(xué)導(dǎo)航相機(jī)	彩色	彩色	彩色
加速電壓	5 Kv - 15 Kv 連續(xù)可調(diào)	5 Kv - 15 Kv 連續(xù)可調(diào)	5 Kv - 20 Kv 連續(xù)可調(diào)
真空模式	高分辨率模式	高分辨率模式	高分辨率模式
	降低荷電效應(yīng)模式	降低荷電效應(yīng)模式	降低荷電效應(yīng)模式
			高真空模式
探測(cè)器	背散射電子探測(cè)器	背散射電子探測(cè)器	背散射電子探測(cè)器
探測(cè)器	二次電子探測(cè)器 (選配)	二次電子探測(cè)器 (選配)	二次電子探測(cè)器 (選配)
樣品尺寸	大直徑 32 mm (Ø)	大直徑 32 mm (Ø)	大 100 mm X 100 mm
樣品尺寸	大直徑 32 mm (Ø)	大直徑 32 mm (Ø)	可同時(shí)裝載 36 個(gè) 0.5 英寸樣品臺(tái)
樣品高度	高 100 mm	高 100 mm	高 65 mm