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SuperViewW國(guó)產(chǎn)3D光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x可對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況...
chotest國(guó)產(chǎn)光學(xué)輪廓儀基于白光干涉技術(shù)，分辨率達(dá)0.1nm，以3D非接觸方式測(cè)量分析劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量等，覆蓋半導(dǎo)體、3C電子、光學(xué)加...
SuperViewW高精度光學(xué)3D表面輪廓儀基于白光干涉技術(shù)，分辨率達(dá)0.1nm，支持從超光滑到粗糙表面的全類型樣件檢測(cè)。覆蓋半導(dǎo)體、3C電子、光學(xué)加工、汽車零...
中圖儀器SuperViewW鍍膜粗糙度光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模...
SuperViewW微納米三維光學(xué)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密...
SuperViewW1中圖3d光學(xué)輪廓儀品牌采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測(cè)量系統(tǒng)，保證測(cè)量精度高；用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米...
SuperViewW1三維光學(xué)輪廓儀通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。是一款...
SuperViewW1中圖3d光學(xué)輪廓儀基于白光干涉原理，對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。是結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3...
SuperViewW光學(xué)3d顯微輪廓測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理，可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀...
SuperViewW1中圖3d輪廓測(cè)量?jī)x器是以白光干涉技術(shù)為原理的，一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建...
SuperViewW1中圖儀器3d輪廓測(cè)量?jī)x除主要用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓外，具有的測(cè)量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量，應(yīng)...
中圖儀器SuperViewW系列3d輪廓儀三維形貌儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲...
中圖儀器SuperViewW1三維自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平...
中圖儀器SuperViewW1光學(xué)3d輪廓測(cè)量?jī)x是以白光干涉技術(shù)原理，對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器，通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，專用于精...
SuperViewW1中圖3d光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x的自動(dòng)拼接測(cè)量功能不管是在粗糙或是光滑、異形或是平面結(jié)構(gòu)，當(dāng)要測(cè)量超出適配鏡頭下的單視場(chǎng)區(qū)域的時(shí)候，可以根據(jù)不同表面...
SuperViewW1光學(xué)粗糙度輪廓儀一體機(jī)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等...
SuperViewW1三維3D光學(xué)輪廓儀測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣，提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能。
W系列表面光學(xué)3D輪廓儀特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、...
W1光學(xué)3D表面輪廓儀采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測(cè)量系統(tǒng)，保證測(cè)量精度高；既可以接入客戶現(xiàn)場(chǎng)的穩(wěn)定氣源也可以接入標(biāo)配空壓機(jī)，在無(wú)外接氣...
W1光學(xué)3D輪廓儀利用光學(xué)干涉原理，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測(cè)。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。設(shè)備提供...
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