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ATC系列 zonglen桌面型高低溫沖擊熱流儀，接觸式高低溫設備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，...

冷熱沖擊試驗箱 導通電阻測試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對 PCB 通路電阻測試中阻值低、測試精度高的要求，克服了手工測量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術問題，實現(xiàn)了對...

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絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) HAST試驗箱，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測，快捷評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻...

HAST高加速壽命試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條...

HAST高加速應力試驗系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、...

PCB離子遷移測試 試驗箱，PCB離子遷移，簡稱CAF。離子遷移是指在印刷電路板等產(chǎn)品上，由于離子化金屬向相反電極移動，在相對電極還原成原來的金屬并有析出的現(xiàn)象...

高加速老化HAST箱HAST測試機Burn-in Oven，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)...

HAST測試機Burn-in Chamber老化測試試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)...

半導體芯片HAST測試高加速老化測試機，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度...

IGBT-HAST試驗箱 高加速老化測試機，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、...

Espec日本愛思佩克高加速老化HAST維修服務，它通過模擬產(chǎn)品在長時間使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應力，如極低的溫度、振動和電壓等，以測試產(chǎn)品的可靠性和...

導通電阻測試系統(tǒng) HAST試驗箱，導通電阻測試系統(tǒng)可與zonglen HAST高加速老化試驗箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導通電阻性能驗證。更好的保證您PCB檢測的精...

CAF測試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗箱，CAF是指印制線路板內(nèi)部在電場作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸?shù)膶щ娦越饘冫}構成的電化學遷移。它通常發(fā)生在印制線路板基材...

日本hirayama平山HAST高加速壽命試驗箱維修，HAST，它通過模擬產(chǎn)品在長時間使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應力，如極低的溫度、振動和電壓等，以測試...

zonglen HAST高加速壽命試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕...

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HAST高加速壽命偏壓老化試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力...

BiasHAST高加速壓力測試系統(tǒng)，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓...

半導體芯片BiasHAST測試，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的...