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更新時(shí)間:2024-11-05 17:16:12瀏覽次數(shù):64次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 食品機(jī)械設(shè)備網(wǎng)芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)
芯片 老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester
Small Burn-in Tester芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)
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冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案
冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題,實(shí)現(xiàn)了對(duì) PCB 多通道低阻測(cè)試的解決方案。本系統(tǒng)不僅可以很好地替代平時(shí)的手工操作,而且還可以對(duì)放置于環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)做高低溫試驗(yàn)的 PCB 板進(jìn)行長(zhǎng)期在線監(jiān)測(cè),從而很方便的觀察 PCB 板通路在不同環(huán)境下的阻值變化情況。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.獨(dú)立溫度監(jiān)測(cè)系統(tǒng),使測(cè)試系統(tǒng)可適用任何環(huán)境試驗(yàn)箱。
2.采用高可靠性、高精度的美國(guó) KEITHLEY 測(cè)試儀器,并經(jīng)過 CE 認(rèn)證,在計(jì)量方面均可 溯源到國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。
3.面向用戶開發(fā)的測(cè)試軟體,充分滿足不同用戶的要求,使測(cè)試軟體的操作介面更完 善、更方便。
4.模組式的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu),使維修方便、快捷;具有良好的可擴(kuò)展性。
5.采用反應(yīng)時(shí)間小于 3 毫秒并且壽命高達(dá) 1000 萬(wàn)次的開關(guān)控制系統(tǒng),確保測(cè)試的可靠性。
6.獨(dú)立的 UPS 供電系統(tǒng),使測(cè)試系統(tǒng)能夠保證測(cè)試資料的可靠性,可以保證在突然斷電 時(shí)測(cè)量資料不丟失。
7. 細(xì)小的模塊外接插頭,使每個(gè)插頭能夠方便的通過環(huán)境試驗(yàn)的通孔。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案
系統(tǒng)特點(diǎn)
1. 模塊化配置 采用多機(jī)箱并聯(lián)使用,每個(gè)機(jī)箱上最多配 4 個(gè)模塊,每個(gè)模塊上有 5 個(gè)小插頭,每個(gè) 小插頭有 6 路測(cè)試通道,每個(gè)機(jī)箱最多有 30 通道,方便系統(tǒng)維修。
2. 自適應(yīng)測(cè)試電流 為了方便用戶能夠在一個(gè)環(huán)境試驗(yàn)箱中做多種產(chǎn)品,不同測(cè)試電流的試驗(yàn),我們采用 以被測(cè)產(chǎn)品電阻值的范圍設(shè)定測(cè)試電流,比如:0 – 20mΩ測(cè)試電流為 1A,20mΩ - 200 mΩ測(cè)試電流為 100mA,大于 200mΩ測(cè)試電流為 10mA,這樣的設(shè)置,就可以在同一試驗(yàn) 中,一次性做多種批次的產(chǎn)品。
3. 單獨(dú)的系統(tǒng)軟件算法 該系統(tǒng)軟件具有較為復(fù)雜的軟件算法,可以自動(dòng)剔除環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)部或試驗(yàn)環(huán)境中的 噪聲所帶來的對(duì)測(cè)試值影響,使電阻測(cè)試值滿足測(cè)試精準(zhǔn)度。
4. 溫度測(cè)量 具有共 10 通道溫度測(cè)試通道,標(biāo)準(zhǔn)配置 4 個(gè),在設(shè)置條件中任意選擇那幾個(gè)溫度測(cè)試 通道,既可以設(shè)定某個(gè)溫度通道為主溫度點(diǎn),也可以設(shè)定大值或平均值做為溫度到達(dá)依 據(jù),進(jìn)行電阻測(cè)量。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案
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