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更新時(shí)間:2017-07-15 04:22:05瀏覽次數(shù):615次
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MIKROTEST S20 涂鍍層測(cè)厚儀 MIKROTEST S20
LCR-827高精密LCR 測(cè)試儀/LCR-827高精密LCR 測(cè)試儀 LCR-827高精密LCR 測(cè)試儀/LCR-827高精密LCR 測(cè)試儀
詳細(xì)資料 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
·測(cè)試頻率:12Hz ~ 100kHz, 503 點(diǎn) ·0.05% 高量測(cè)準(zhǔn)確度 (LCR-817/819) ·0.1% 高量測(cè)準(zhǔn)確度 (LCR-816/826/827/829) ·100 組設(shè)定條件記憶儲(chǔ)存、呼出功能 ·R/Q, C/D, C/R, L/Q 測(cè)試模式 ·值、差異值(△ )、差異百分比(△%)顯示 ·240 x 128 大型 LCD 顯示幕 ·選別機(jī)介面 (LCR-826/827/829) ·測(cè)試條件及測(cè)試結(jié)果同時(shí)顯示在螢?zāi)簧?
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