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更新時(shí)間:2017-09-05 11:58:19瀏覽次數(shù):572次
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MIKROTEST S20 涂鍍層測(cè)厚儀 MIKROTEST S20
LCR-829高精密LCR測(cè)試儀 /LCR-829高精密LCR測(cè)試儀 LCR-829高精密LCR測(cè)試儀 /LCR-829高精密LCR測(cè)試儀
詳細(xì)資料 ·測(cè)試頻率:12Hz ~ 100kHz, 503 點(diǎn)
·0.05% 高量測(cè)準(zhǔn)確度 (LCR-817/819)
·0.1% 高量測(cè)準(zhǔn)確度 (LCR-816/826/827/829)
·100 組設(shè)定條件記憶儲(chǔ)存、呼出功能
·R/Q, C/D, C/R, L/Q 測(cè)試模式
·值、差異值(△ )、差異百分比(△%)顯示
·240 x 128 大型 LCD 顯示幕
·選別機(jī)介面 (LCR-826/827/829)
·測(cè)試條件及測(cè)試結(jié)果同時(shí)顯示在螢?zāi)簧?規(guī) 格 測(cè)試頻率 12Hz to 100kHz (503 點(diǎn)) for LCR-819/829 12Hz to 10kHz (489 點(diǎn)) for LCR-817/827 100Hz to 2kHz (245 點(diǎn)) for LCR-816/826 準(zhǔn)確度 0.05% (LCR-87/819) , 0.1%(LCR-816/826/827/829) 測(cè)試速度 34mS (LCR-826/827/829), 68mS (LCR-816/817/819) 測(cè)試電壓 5mV ~ 1.275V (5mV/step) for LCR-817/819/827/829 0.1V ~ 1.275V (5mV/step) for LCR-816/826 直流偏壓 內(nèi)部 2V 外部 0 to 30V 顯示范圍 串/并聯(lián)等效阻抗 R 0.00001 ~ 99999k 電容 C 0.00001pF ~ 99999uF 電感 L 0.00001mH ~ 99999H 品質(zhì)因素 Q 0.0001 ~ 9999 散逸因素 D 0.0001 ~ 9999 量測(cè)模式 Q, C/D, C/R, L/Q 等效電路 具串聯(lián)與并聯(lián)兩種方式可供選擇 記憶體 100 組 平均測(cè)試值 1 to 255 次 量測(cè)速度 慢速、中速及快速 量測(cè)值顯示 Value, △%, △ 顯示幕 240 x 128 dot matrix C.C.F.L back light LCDR/ 介面 Handler 介面 (LCR-829/827) 使用電源 100V ~ 240V, 50/60Hz 附件 電源線 x 1, 操作手冊(cè) x 1, 測(cè)試制具: LCR-06A x 1
選購(gòu)測(cè)試制具: LCR-05, LCR-07, LCR-08, LCR-09尺寸及重量 330(寬) x 149(高) x 437(長(zhǎng))mm, 約 5.5 公斤
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