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四探針電阻率測(cè)試儀 / 便攜式電阻率測(cè)試儀（此款帶軟件） 詳細(xì)摘要： 便攜式電阻率測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器
產(chǎn)品型號(hào)：JCKDY-1 所在地： 更新時(shí)間：2022-10-27 參考價(jià)： 面議 在線留言
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詳細(xì)摘要： 便攜式電阻率測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器
產(chǎn)品型號(hào)：JCKDY-1 所在地： 更新時(shí)間：2022-10-27 參考價(jià)： 面議 在線留言