顆粒碰撞臺(tái)用于電子元器件封裝后，對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn)，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種工藝性試驗(yàn)。用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。
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主營產(chǎn)品： 低頻校準(zhǔn)儀 |
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更新時(shí)間：2024-10-05 07:07:17瀏覽次數(shù)：136
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顆粒碰撞臺(tái)用于電子元器件封裝后，對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn)，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種工藝性試驗(yàn)。用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。
