754N紫外可見分光光度計

754N紫外可見分光光度計

商品簡述：

 通過2011-2013年度3年期產(chǎn)品質(zhì)量國家監(jiān)督抽查首年檢測. 基本原理： ● 分光光度計分析法是基于不同分子結(jié)構(gòu)的物質(zhì)對電磁輻射選擇性吸收而建立的分析方法。 ● 應(yīng)用電磁輻射波譜區(qū)通常在200nm～1000nm為紫外可見分光光度計。 ● 采用微處理機控制技術(shù)，在紫外可見光譜區(qū)域內(nèi)對物質(zhì)作定性、定量分析，是常規(guī)實驗室*的多用途分析儀器。 通過2011-2013年3年期產(chǎn)品質(zhì)量國家監(jiān)督抽查首年檢測.

通過2011-2013年度紫外可見分光光度計3年期產(chǎn)品質(zhì)量國家監(jiān)督抽查首年檢測。

特點：
● 采用*的全息閃耀光柵單色器，具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優(yōu)點。
● 超大屏幕帶背光液晶顯示器，測量數(shù)據(jù)一目瞭覽。
● 采用微機測量系統(tǒng)，T-A轉(zhuǎn)換精度高，并有自動調(diào)0%T和調(diào)*T，濃度因子設(shè)定、濃度直讀。
● 測量讀數(shù)準(zhǔn)確性高，重現(xiàn)性好和穩(wěn)定性佳。
● 可選配串行打印機和與軟件UVWin7配合使用，拓展儀器的使用功能。
● UVWin7軟件包（另購）。

主要技術(shù)指標(biāo):

● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長zui大允許誤差：±2nm
● 波長重復(fù)性：≤1nm
● 透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光：≤0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩(wěn)定性: 暗電流漂移：0.2%(T)/3min  亮電流漂移：0.5%(T)/3min