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摘要：日立的冷場發(fā)射電子源和300 kV加速電壓技術共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術，空間分辨電子能...

摘要：200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能通過單極片實現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率...

摘要：的SEM更為緊湊 寬幅僅為45 cm的緊湊型的設計，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。全新開發(fā)的用戶界面和電子光學系統(tǒng)讓您...

摘要：集優(yōu)異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自...

摘要：現(xiàn)有機型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8...

摘要： 專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩(wěn)定觀察的半導體器件，高分辨成像所設計。

摘要： 日立高新鎢燈絲掃描電子顯微鏡SU3500

摘要：日立公司于2016年4月15日在發(fā)布了新型掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000。該產(chǎn)品結構緊湊，占地面積小，但分辨率不...

摘要：? 具備多種成像模式： 透射模式（TEM），掃描透射模式（STEM），電子衍射模式（ED）? 電子加速電壓：...

摘要：? 世界的小型臺式透射電子顯微鏡（TEM）? 世界的多用途臺式電子顯微鏡? 透射電鏡（TEM）、電子衍射（E...

摘要：泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實時分析集成于同一...

摘要： Quattro 掃描電子顯微鏡

摘要： Talos 透射電子顯微鏡

摘要： Helios NanoLab雙束電子顯微鏡

摘要： Scios 雙束電子顯微鏡

摘要： Prisma EX 掃描電子顯微鏡

摘要： FEI 掃描電子顯微鏡Apreo 材料科學應用

摘要： FEI 掃描電子顯微鏡 Quanta SEM 材料科學應用

摘要： FEI 透射電子顯微鏡Talos F200X 材料科學應用

摘要： 日本電子JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

摘要： 日本電子JSM-IT500 掃描電子顯微鏡

摘要： 日本電子JSM-7200F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

摘要： 日本電子JSM-7500F 冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡

摘要： 日立FlexSEM 1000掃描電子顯微鏡

摘要： 日立 S-3700N掃描電子顯微鏡