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溫度沖擊試驗和溫度循環(huán)試驗之比較
各種試驗目的及環(huán)境條件:
目的 | 加速應力試驗 | 加速壽命試驗 | 環(huán)境應力篩選試驗(ESS) |
試驗標準 | MIL-STD-202 Method 107 | IEC60749-25 JEDEC JESD22-A104-b | IEC68-2-1 MIL-STD-2164-85 |
試驗方法 | 溫度沖擊試驗 | 溫度循環(huán)試驗 | 溫度循環(huán)試驗 |
試驗環(huán)境 | 比使用環(huán)境更嚴酷 | 極限使用環(huán)境 | 極限使用環(huán)境 |
試樣 | 零部件 | 元器件,焊點(BGA,CSP) | 成品 |
試樣尺寸 | 小 | 小 | 比較大 |
試驗溫度范圍 | -40(-55)~125(150)℃ | -40(-65)~125(150)℃ | -40(-0)~100℃ |
溫度變化率 | 1槽法:大于30℃/分鐘 (空氣) 2槽法:大于50℃/分鐘 (空氣) | 1槽法:小于15℃/分鐘 (試樣) | 1槽法:小于20℃/分鐘 (空氣) |
加速系數(shù) | 100~500倍 | 比加速試驗加速系數(shù)小 | 10~20倍 |
試驗結果 | 設計信息 | 設計信息 | 生產品質差異驗證 |
溫度沖擊試驗: | ||
升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大,同時試驗嚴酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。 | ||
溫度沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的差異主要是應力負荷機理不同。溫度沖擊試驗主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效,而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。 | ||
溫度沖擊試驗容許使用二槽式試驗裝置;溫度循環(huán)試驗使用單槽式試驗裝置。在二槽式箱體內,溫度變化率要大于50℃/分鐘。 | ||
※引起溫度沖擊的原因:回流焊,干燥,再加工,修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。 | ||
※加速應力試驗:加速試驗是使用比在實際環(huán)境中更短的時間,對試驗樣品進行的加速試驗,以考察其失效機理。試驗的加速就是采用加大應力的方法促使試驗樣品在短期內失效,。但是必須注意避免其它應力原因引起的失效機理。 | ||
溫度循環(huán)試驗: | ||
溫度循環(huán)就是將試驗樣品曝露于予設的高低溫交替的試驗環(huán)境中。為避開溫度沖擊影響,試驗時的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時,為達到蠕變及疲勞損傷的效果,推薦試驗溫度循環(huán)為25℃~100℃,或者也可根據(jù)產品的用途使用0℃~100℃的循環(huán)試驗,曝露時間為各1 5分鐘。 | ||
環(huán)境應力篩選試驗 | ||
對產品施加環(huán)境應力促使早期失效產品存在的潛在缺陷盡快暴露而予以剔除。 | ||
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