HD Prime 用XOS *的高清晰光譜技術(shù)，測量玩具和兒童用品 中的鉛以及其他有毒元素，可測出微量成份。HD Prime分析儀采用先 進(jìn)的光學(xué)分析技術(shù)，可分別測出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份。這種分析技術(shù)可測量目前和將來由CPSIA規(guī)定的含量極限。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面，既能快速定性檢測，又能精確定量分析，性能價(jià)格比高。測量是非破壞性的，不需要費(fèi)錢耗時(shí)的樣品準(zhǔn)備，從而不會(huì)損壞被測商品，已備復(fù)查。高清晰光譜儀使負(fù)責(zé)產(chǎn)品安全的行業(yè)和政府管理部門能夠快
速，準(zhǔn)確，方便地檢測產(chǎn)品。用于玩具和兒童用品

 HD Prime應(yīng)用領(lǐng)域
• 玩具和兒童用品中多種有毒元素測量，符合CPSIA規(guī)定的要求
• 快速準(zhǔn)確地定性定量分析有毒元素
• 使用場合：工廠的生產(chǎn)線上和實(shí)驗(yàn)室，第三方檢測實(shí)驗(yàn)室，零售商，檢測部門
• 符合ASTM F2853 和 F2617標(biāo)準(zhǔn)性能和特點(diǎn)
• 測定*有毒元素（Pb, Sb, As, Ba, Cd,Cr, Hg, Se, Br, and Cl）.
• HD Prime可分別測出產(chǎn)品基材和涂層 中有毒元素的成份
• 1 mm小面積分析，能檢測不規(guī)則形 狀
• 使用方便，可供工廠，實(shí)驗(yàn)室使 用，2小時(shí)培訓(xùn)
• 不需要樣品準(zhǔn)備: 無須剝離和浸煮涂層，從而不破壞產(chǎn)品結(jié)構(gòu)
• 定性檢測模式：提供有毒元素快速檢測
• 定量檢測模式:精確地確定涂層和

better analysis counts
HDPrime 分析儀檢測鉛和其他有毒元素
* 較長的測量時(shí)間
*的選擇

HDXRF 內(nèi)部高清晰光譜技術(shù)是一種元素分析技術(shù)，它用XOS產(chǎn)品雙彎晶面（DCC）反射鏡確保了測量的精確性和準(zhǔn)確性。多個(gè)DCC透鏡截獲來自X光管的X白光束，并選定幾個(gè)不同能量的光束，聚焦成很強(qiáng)的束斑，打在被測產(chǎn)品表面。HD光譜分析儀可從低能到高能范圍內(nèi)選擇單色激發(fā)束，使用戶能分別定量分析涂層和基底內(nèi)有毒元素的成份。HD光譜分析儀采用單色激發(fā)束可消除熒光峰下的散射背景噪聲，從而大大改善元素探測極限。由于這種技術(shù)采用聚焦束激發(fā)樣品，對于直徑為１mm的樣品分析面積，其靈敏度遠(yuǎn)高于采用準(zhǔn)直器來減小束斑的分析儀的靈敏度。示意圖展示了用于玩具和兒童用品中有毒元素檢測的HD光譜分析儀的基本結(jié)構(gòu)。雙向彎晶DCC）
反射鏡和不同能量的光束可降低背景噪聲，把涂層成分從基底材料中分離出來



LOD in ppm– Pb Cd Cr As Br Sb Se Hg Ba Cl 
塑料基底.8 2 2 .8 1 5 1 1 100 100*
PVC基底1 2 5 1 1 5 1 2 100 N/A
塑料上涂層5 25* 15 5 5 50* 5 8 200 150*
金屬基底10 5 15 8 N/A 10 5 10 200 N/A
金屬上涂層8 15* 15 8 5 25* 5 10 200 150*
探測極限
HD Prime 適用于測量不同的樣品，可從大的玩具到小的珠寶。

用戶界面和數(shù)據(jù)管理
• 彩色指示框分別顯示產(chǎn)品基底和涂層中測量結(jié)果是通過還是沒通過
• 被測元素的成份表示為ppm和ug/cm2兩種單位
• 每次測量的熒光譜被記錄并可調(diào)出分析
• 每次被測樣品和測試面積的兩個(gè)數(shù)碼圖像被儲(chǔ)存
• 所有檢測結(jié)果被記錄，無法篡改
• 數(shù)據(jù)輸出可用電子文件或直接打印，LIMS兼容
• 分析儀操作用用戶很熟悉的鼠標(biāo)操作
• 大樣品室方便測量大的和不規(guī) 則形狀的產(chǎn)品
• 接通電源即可測量：不需要特 殊供應(yīng)設(shè)備
• 兩個(gè)攝像頭分別攝下玩具和分 析表面的圖像
• 激光束可準(zhǔn)確對準(zhǔn)被測面積
• 方便調(diào)節(jié)測量頭的方向
• 自動(dòng)連鎖樣品室的門以確保安 全操作控制盒和計(jì)算機(jī)測量頭顯示器鍵盤和鼠標(biāo)
better analysis counts
產(chǎn)品規(guī)格元素Pb, Sb, As, Ba, Cd, Cr, Hg, Se, Br, Cl
分析范圍小于5000 ppm
分析模型定性模式：快速檢測元素的存在定量模式: 精確準(zhǔn)確地確定元素成份
一次測量可同時(shí)得到涂層和基底中的元素成份并分別記錄
定性測量時(shí)間基底是~1min
基底和涂層涂層是~2min
定量測量時(shí)間塑料，木頭，橡膠，皮革，織物，濕涂料為~2min
只測基底金屬為~3min
定量測量時(shí)間~5min
涂層
測量面積直徑 1mm
環(huán)境溫度5¬35o C
相對濕度80% max.
功率要求90 ¬264 VAC, 47¬63 Hz
光管電壓50kV max
系統(tǒng)功耗200 W max
結(jié)構(gòu)分析儀尺寸H: 812 mm. W: 914 mm. D: 660mm （32”x36”x26”）
樣品室尺寸H: 560 mm W: 851 mm. D: 582 mm （22” x 33.5” x 23”
分析儀重量110 kg （240 lbs）
數(shù)據(jù)輸出硬盤儲(chǔ)存
為LIMS連接USB輸出接口
攝像頭一個(gè)攝像頭: 樣品的大視角成像
另一攝像頭: 分析面積的近視角成像
操作系統(tǒng)視窗系統(tǒng)
探測面積選擇激光對中
用戶界面材料選擇塑料，金屬，木頭，玻璃, 橡膠，皮革，織物
量化:測試結(jié)果基底中的成份單位是ppm （wt.）.，用顏色塊表示通過沒通過
涂層中的成份單位是ppm （wt.） 和ug/cm2.，也用顏色塊表示通過沒通過
包含光譜分析
定性:測試結(jié)果顏色塊表示通過沒通過
用戶輸入操作員名字和樣品細(xì)節(jié)用戶, 樣品定義和描述
數(shù)碼成像每次測量都儲(chǔ)存樣品和被測面積的圖像
校準(zhǔn)自動(dòng)校準(zhǔn)程序
美國XOS華南區(qū)代理湖南艾克塞普儀器設(shè)備有限公司