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鍍鎳測厚儀

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更新時間：2017-10-27 16:05:10瀏覽次數(shù)：305次

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上海申方源儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

CMI 243是一款專門為測量磁性金屬上的涂鍍層(如鋅、鎳等)厚度而設計的便攜式膜厚儀。*的渦電流測試方法使測量更精確。特殊的測量探頭幾乎測量鐵質(zhì)底材上所有的金屬涂鍍層

詳細介紹

CMI 243是一款專門為測量磁性金屬上的涂鍍層（如鋅、鎳等）厚度而設計的便攜式膜厚儀。*的渦電流測試方法使測量更精確。特殊的測量探頭幾乎測量鐵質(zhì)底材上所有的金屬涂鍍層，配置的測量探頭對細小的零件也可以精確測量。它具有X射線熒光的測量精度，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。CMI 243在設計上更加合理、可靠、實用。

●ECP-M探頭：鋅、鎳均可以測量

●準確度：±1%

●測量范圍：0.08-1.50mils（2-38μm）

●分辨率：0.01mils （0.1μm）

●適用標準：符合ASTM B244—b259，DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168（DRAFT）,BS 5411 part 3

●單位：英制和公制單位自動轉(zhuǎn)換

●統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示：讀取次數(shù)，平均值，標準差，zui高值，zui低值，zui終值

●記憶儲存：12,400個數(shù)據(jù)儲存

●接口：RS-232串行端口，波特率可調(diào)，可接打印機或計算機

●顯示：液晶顯示（LCD）,字符高度1/2” （1.27cm）

●電池：9V干電池或可充電電池。

●尺寸：57/8” （L） ×31/8” （W）×13/16” （D）（14.9×7.94×3.02 cm）