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X-4 顯微熔點(diǎn)儀

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更新時(shí)間：2024-08-23 11:17:46瀏覽次數(shù)：109次

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上海長(zhǎng)方光學(xué)儀器有限公司

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X-4顯微熔點(diǎn)儀一、儀器用途物質(zhì)的熔點(diǎn)是指該物質(zhì)由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時(shí)的溫度

詳細(xì)介紹

X-4 顯微熔點(diǎn)儀

一、儀器用途
物質(zhì)的熔點(diǎn)是指該物質(zhì)由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時(shí)的溫度。在有機(jī)化學(xué)領(lǐng)域中，熔點(diǎn)測(cè)定是辨認(rèn)該物質(zhì)本性的基本手段，也是純度測(cè)定的重要方法之一。目視顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀是研究、觀察物質(zhì)在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物質(zhì)三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化過程的有力檢測(cè)手段。
本儀器可用載波片方法測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)、形變、色變等；也可用藥典規(guī)定的毛細(xì)管方法測(cè)其熔點(diǎn)，尤其對(duì)深色樣品，如醫(yī)藥中間體、顏料、橡膠促進(jìn)劑等的熔點(diǎn)，并能自始自終觀察到其熔化的全過程。

顯微熱分析儀
X－4　顯微熔點(diǎn)儀

二、儀器特點(diǎn)

1. 本儀器使用毛細(xì)管法進(jìn)行測(cè)量。申請(qǐng)?zhí)枺? 9
2. 根據(jù)特殊要求，本儀器也可用載波片——載波片法進(jìn)行測(cè)量。
3. 本儀器采用LED數(shù)字顯示熔點(diǎn)溫度值。
4. 本儀器采用熱臺(tái)控制系統(tǒng)和顯微鏡組合成一體的結(jié)構(gòu)，簡(jiǎn)單可靠，使用方便。
5. 升溫速率連續(xù)可調(diào)。我們建議你采用1℃/分的升溫速率測(cè)量熔點(diǎn)的溫度值，在次使用時(shí)記錄下1℃/分的
升溫速率時(shí)的波段開關(guān)和電位器的編號(hào)，則以后用此位置就能得到你的所要求的升溫速率。并請(qǐng)注意（1）
室溫的影響；在同樣波段開關(guān)和電位器的編號(hào)下，室溫越低，升溫速率越慢。（2）電子元件的影響：電子
元件的老化,升溫速率一定時(shí),其電位器的編號(hào)會(huì)有所變化,只要進(jìn)行微調(diào)即可。編號(hào)越大,升溫速率越快。

三、主要技術(shù)參數(shù)

1.顯微鏡采用4倍物鏡，10倍目鏡
2.測(cè)量范圍：室溫∽320℃
3.測(cè)量精密度：室溫∽200℃的誤差±1℃
200℃∽320℃的誤差±2℃
4.電源220V 50HZ 功率 80W