工業(yè)顯微鏡的三種測量方法

工業(yè)用顯微鏡是人類進入原子時代的標志，是一種由一個或多個透鏡組合而成的一種光學儀器，一種將微小物體放大成為人類肉眼所能看到的儀器。工業(yè)用顯微鏡首先要說的是體視顯微鏡，主要用于現(xiàn)場檢查，PCB,液晶等行業(yè)用的比較多。其次是金相顯微鏡符合材料分析等，鋼鐵及金加工行業(yè)要求測量顯微鏡，更多的應用于微電子及精細加工業(yè)。

一、軸切法

　　軸切法是利用顯微鏡的標記對通過測件軸心線并利用測量刀上的刻線進行瞄準定位的測量方法。測量刀是萬工顯的附件。其表面有一刻線，刻線至刃口的尺寸為0.3和0.9毫米兩種，測量時，把測量刀放在測量刀墊板上，刻線面通過測件的軸線，并使測刀的刃口和被測面緊緊接觸，用相應的米字線去瞄準，測量兩把測刀刻線間的距離，就間接測得被測件的測量值。為了避免測量中的計算，在中間垂直米字線的兩側刻有兩組共四條對稱分布的平行線，每組刻線對中心刻線的距離分別為0.9和2.7毫米，它正好是測刀的刃口到刻線間的距離0.3和0.9毫米的3倍。這樣用3倍物鏡瞄準時，分劃板上的0.9和2.7毫米刻線正好壓住測刀上的0.3和0.9毫米刻線，這時測刀上的刃口正好被米字線的中間刻線所瞄準。主要用于螺紋中徑測量。

　　二、影像法

　　影像法是利用顯微鏡的標記，對影像法進行瞄準定位的測量方法。測量時，通常是先用(米字線)分劃板上的刻線瞄準測件影像的邊緣，并在讀數(shù)顯微鏡上讀出數(shù)值，然后移動工作臺以同一條刻線瞄準測件影像的另一邊，再作第二次讀數(shù)。兩次讀數(shù)的差，就是被測件的測量值。

      三、接觸法

　　接觸法是利用顯微鏡的標記對和緊靠測件測量點、線、面的萬工顯附件-光學測孔器的測頭連在一起的雙刻線進行瞄準定位的測量方法。測量時將光學測孔器的測頭緊靠件(內、外)表面。當測量孔徑時，首先使測頭與測件內孔接觸，取得弦長后，使米字線中間刻線被光學測孔器的雙套線套在中間，并在讀數(shù)顯微鏡讀取一數(shù)；然后改變測量方向，使測頭在另一側與測件接觸，同樣使米字線分劃板的中間刻線仍被光學測孔器的雙套線套在中間，在讀數(shù)顯微鏡上讀取另一數(shù)。兩次讀數(shù)的差，再加上測頭直徑的實際值，即為測件的內尺寸，如減去測頭直徑的實際值，即為測件的外尺寸。

 以上就是關于工業(yè)顯微鏡測量方法的介紹，相信大家在閱讀后對此有了相應的了解，不同的測量方法各自的適用范圍不同，在選擇時要根據(jù)自行需求來選擇，希望對您有所幫助。