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更新時間:2022-10-12 13:07:48瀏覽次數(shù):175次
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iMOXS測量系統(tǒng)使用電子顯微鏡的現(xiàn)有探測器,能夠以較低的成本通過選定法蘭與所有現(xiàn)有類型的SEM結(jié)合。您可在SEM的電子源與額外的X射線源之間進(jìn)行選擇,從而利用一臺設(shè)備對樣品進(jìn)行 X 射線熒光分析與電子束微量分析。通過利用這兩種方法的優(yōu)勢,您能夠以非常高的分辨率檢測低濃度元素。
1、模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計:X射線管和X射線光學(xué)器件能夠依據(jù)特定要求輕松調(diào)整
2、簡單操作:可通過SEM監(jiān)控器輕松調(diào)整并查看測量位置
3、可通過選定法蘭輕松安裝到所有現(xiàn)有原子力顯微鏡上
4、適用于分析低至10 µm的結(jié)構(gòu):高質(zhì)量的多毛細(xì)管光學(xué)器件可將 X 射線聚焦在小型測量區(qū)域上。
5、表面下方檢查:即使表面下方深處的材料也能測量
1、SEM 映射:快速概覽樣品的元素成分;找出SEM無法看到的元素
2、故障分析,材料失效與材料疲勞測試
3、在 SEM 中直接進(jìn)行材料分析,例如測定鋁合金中的硅與鋅比例
4、鑒定分析
5、ppm 級的痕量元素證明
檢測重元素 (Z > 18)
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