HA4200 低本底γ能譜儀

HA4200低本底γ譜儀是一款基于數(shù)字化脈沖波形處理技術(shù)的核檢測(cè)儀器。采用高分辨率NaI（Tl）探測(cè)器，可定量分析建筑材料及其制品中的γ放射性和空氣、土壤中的氡氣含量，可用于無機(jī)非金屬材料如大理石、花崗巖、玻璃、陶瓷、水泥、磚瓦、砂石、混凝土及制品等放射性檢測(cè)。

廣泛應(yīng)用于海關(guān)檢驗(yàn)檢疫、建材、地礦、環(huán)保、疾控、科研機(jī)構(gòu)、高等院校、礦廠企業(yè)等領(lǐng)域和單位。

產(chǎn)品特色

? 快速無損測(cè)量，可直接對(duì)樣品進(jìn)行劑量測(cè)定和核素識(shí)別；

? 分體式低本底鉛室，有效屏蔽外界本底干擾；

? 對(duì)核素進(jìn)行分析，自動(dòng)計(jì)算放射性核素含量及內(nèi)外照射指數(shù)；

? 斷電自動(dòng)保存當(dāng)前測(cè)量譜圖，并支持?jǐn)帱c(diǎn)續(xù)采；

? 自動(dòng)采譜，引導(dǎo)性測(cè)量分析，操作簡(jiǎn)單，方便使用

技術(shù)參數(shù)

? 探測(cè)器： NaI（Tl）晶體；

? 能量分辨率：≤7.2% (@661.5keV，Cs-137)；

? 能量范圍：30keV～3MeV（10MeV可選）；

? 本底計(jì)數(shù)：＜5cps；

? MCA多道分析器：1024 道或2048道；

? 微分非線性：＜0.05%；

? 積分非線性：＜0.10%；

? 穩(wěn)定性：24小時(shí)峰漂移≤±1.0%；

? 測(cè)量元素范圍：Ra、Th、K、Rn. 137Cs、241Am等多種放射性核素，可按照用戶要求添加；

? 支持定制，滿足不同用戶使用需求。

*技術(shù)說明，如有更改，恕不另行通知。