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磁粉探傷靈敏度A型試片

A型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質的工件，可以正確地選擇磁化規(guī)范

，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的

電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷工作者*的調試工具。

特點如下：

試片用于磁粉顯示，圖像直觀，使用簡便，對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復雜的零件時，表現(xiàn)其獨

特的優(yōu)點。

性能規(guī)格：

試片=1（um）適用于高靈敏度探傷，規(guī)格為（11-12）D;

=2（um）適用于中靈敏度探傷，為（8-9）D；=3（um）適用于低靈敏度探傷，規(guī)格為（5-6）D。括號中分子為