A1型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片A型靈敏度試片先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。磁粉探傷A型標(biāo)準(zhǔn)試片特點(diǎn)：試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn)。磁粉探傷A型標(biāo)準(zhǔn)試片性能規(guī)格：A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對應(yīng)。本試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。本套試片包括： 1# 15/100μ  2# 30/100μ 3# 60/100μ 4# 7/50μ 5# 15/50μ 6# 30/50μ共六片不同規(guī)格的試片組成磁粉探傷A型標(biāo)準(zhǔn)試片使用說明：一、試片使用前，應(yīng)先將其有槽面向下用膠帶紙密貼于適當(dāng)?shù)拇盆F性圓柱形試件上（一般用直徑D=50mm），以通電法進(jìn)行周向磁化，實(shí)施濕式磁粉連續(xù)法的探傷操作，以求出該試片在實(shí)際應(yīng)用條件下出現(xiàn)特征磁痕顯示（如中靈敏度試片為1/2周，高靈敏度為1/3周）時(shí)所需的臨界磁化電流I0（A）(峰值)，并由下式計(jì)算出該試片特征磁痕顯示所需的臨界有效磁場強(qiáng)度值H0（Oe）：H0=4I0/D。（按本所條件測定，A1-15/50和A1-30/100的H0為22～28Oe、A1-7/50和A1-15/100的H0為50～56Oe）。二、根據(jù)探傷所要求的磁化規(guī)范選用適當(dāng)型號的試片（一般標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范A1-15/50或A1-30/100，嚴(yán)格規(guī)范選A1-7/50或A1-15/100），密貼于工件的被檢處，進(jìn)行連續(xù)法的探傷操作，如當(dāng)磁化電流達(dá)I0'、試片呈現(xiàn)上述特征磁痕顯示時(shí)，即說明工件被檢處已被磁化至具有該試片的臨界有效磁場強(qiáng)度值H0。若被檢處要求磁化至H值（H> H0）則可由下式求出所需的磁化電流值：I= I0'×H/ H0。三、將試片（常用A1-15/50）貼在特定的試件上進(jìn)行磁化，檢驗(yàn)其能否出現(xiàn)特征磁痕顯示，并將其所對應(yīng)的臨界磁化電流值與正常值對比，便可正確評價(jià)探傷系統(tǒng)的綜合性能、裝備性能、磁粉或磁懸液性能、以及操作是否正確。四、注意事項(xiàng)：1、試片用畢應(yīng)以煤油洗凈并涂上防銹油后插入原裝片袋內(nèi)保存，已銹蝕者不宜再使用。2、試片不應(yīng)反復(fù)彎折、撕拉，以防刻槽開裂，已變形或開裂的試片不宜再使用。3、試片只限用于連續(xù)法顯示，不宜用于剩磁法，但可按材料的βr-H曲線確定剩磁法的磁化規(guī)范。