所在位置及鑒別手段
金屬氧化物
SDI測(cè)試膜截留物質(zhì)-通過(guò)分析清洗液中金屬離子-解剖分析被污染膜元件-進(jìn)行對(duì)金屬氧化物污染物清洗-改善預(yù)處理工藝和運(yùn)行條件
SDI測(cè)試膜截留物質(zhì)-解剖分析被污染膜元件-采用含有脂類洗滌劑清洗-改善預(yù)處理工藝和運(yùn)行條件
LSI指數(shù)和可能生成的難溶物溶度積測(cè)試-解剖分析被污染的典型膜元件-針對(duì)具體情況選擇合適的清洗劑清洗-選擇更有效的阻垢
淤泥污染-檢測(cè)預(yù)處理系統(tǒng)后的進(jìn)水-解剖分析被污染的典型膜元件-改善預(yù)處理系統(tǒng)-利用癥狀2：鹽透過(guò)率和產(chǎn)水流量增加,但進(jìn)水和濃水之間的壓力差正常。
引發(fā)問(wèn)題的可能原因 | 解決方法 | (壓力容器 | 癥狀3：開(kāi)始鹽透過(guò)率不變,甚至還會(huì)有所降低,在運(yùn)行一段時(shí)間后系統(tǒng)鹽透過(guò)率開(kāi)始持續(xù)增加,并伴隨著進(jìn)水和濃水之間的壓差增大和系統(tǒng)產(chǎn)水量降低。 引發(fā)問(wèn)題的可能原因 | 解決方法 | | 1次清晰 |
癥狀：鹽透過(guò)率高，產(chǎn)水量滿意，甚至稍高每段壓力差較大。 ,引起反滲透系統(tǒng)的過(guò)分濃度差極化-校核反滲透系統(tǒng)濃淡水比例和運(yùn)行回收率-檢查反滲透裝置上壓力容器及壓力管道固定是否合適 U型濃水密封圈-加大反滲透濃水的運(yùn)行流量 U型密封圈-改善配管固定方式癥狀：鹽透過(guò)率增大產(chǎn)水流量加大壓力差降低。 引發(fā)問(wèn)題的可能原因 | 解決方法-膜表面被給水的顆粒物質(zhì)或系統(tǒng)產(chǎn)生濃差極化而生成的無(wú)機(jī)鹽結(jié)垢晶體劃傷-顆粒污染物-分析后,校核濃水,測(cè)試難溶物的溶度積數(shù)值-改善預(yù)處理系統(tǒng)-調(diào)整系統(tǒng)水回收率-選擇使用更有效的阻垢劑RO系統(tǒng)的段產(chǎn)水量降低，則存在顆粒類污染物的沉積；癥狀：鹽透過(guò)率高產(chǎn)水量滿意或稍高每段之間的壓力差基本不變。 引發(fā)問(wèn)題的可能原因 | 解決方法O型圈漏水-對(duì)壓力容器的取樣管取樣試驗(yàn)分析確認(rèn)具體發(fā)生位置-更換在膜元件或容器上已損壞或產(chǎn)生漏流 | 膜元件膜袋粘合線破裂 | ,判定發(fā)生具體位置-膜元件卷伸出 | ,產(chǎn)品水壓力及膜元件在運(yùn)行的壓力降是否合適 | 系統(tǒng)運(yùn)行有水錘產(chǎn)生-檢查設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序是否合理 | |
7, | 所在位置及鑒別手段 | 反滲透膜被給水中的氧化性物質(zhì)氧化而引起膜性能退化-重點(diǎn)對(duì)段反滲透膜組件進(jìn)行水質(zhì)水量監(jiān)測(cè),與試機(jī)報(bào)告數(shù)據(jù)進(jìn)行比較-對(duì)于情況較為嚴(yán)重者 (ORP) |
8 | 所在位置及鑒別手段 | 高壓力下對(duì)膜片的壓密性 | |
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