產(chǎn)品簡介 功能描述：四點探針標準測試方法，采用步進系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標準校準電阻件. FT-3120 系列半自動四探針測試儀
詳細介紹 詳細介紹 一.功能描述： 四點探針標準測試方法，采用步進系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標準校準電阻件. FT-3120 系列半自動四探針測試儀 二.適用范圍： 晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴散片；*電極設計，如電鍍銅電阻測量等；半導體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池，LCD，OLED，觸摸屏等. FT-3120 系列半自動四探針測試儀 三.技術(shù)參數(shù)： 規(guī)格型號 FT-3120A FT-3120B FT-3120C FT-3120D 1.電阻 10^-3～2×10^4Ω 10^-5～2×10^5Ω 10^-6～2×10^5Ω 10-4～1×107Ω 2.方塊電阻 10^-3～2×10^4Ω/□ 10^-5～2×10^5Ω/□ 10^-6～2×10^5Ω/□ 10-4～1×107Ω/□ 3.電阻率 10^-4～2×10^5Ω-cm 10^-6～2×10^6Ω-cm 10-7～2×106Ω-cm 10-5～2×108Ω-cm 4.測試電流 0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA， 10mA，100mA 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA 10mA ---200pA 5.電流精度 ±0.1% ±2% 6.電阻精度 ≤0.3% ≤10% 7.PC軟件操作 PC軟件界面：電阻、電阻率、電導率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、數(shù)據(jù)管理分析：過程數(shù)據(jù)，大、小值，均值，方差，變異系數(shù)，樣品編號，測試點數(shù)統(tǒng)計報表生成等 8.探針范圍： 探針壓力為100-550g；依據(jù)樣品接觸需要手動調(diào)節(jié) 9.探針 針間絕緣電阻：≥1000MΩ；機械游移率：≤0.3% 圓頭銅鍍金材質(zhì)，探針間距1mm；2mm；3mm選配，其他規(guī)格可定制 10.可測晶片 尺寸選購 晶圓尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）； 方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm 11.分析模式 自動或手動單點模式 12.加壓方式 測量重復性：重復性≤3% 13.安全防護 具有限位量程和壓力保護;誤操作和急停防護;異常警報 14.測試環(huán)境 實驗室環(huán)境 15.電源 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<100W 16.選購項目 電腦和打印機
食品機械設備網(wǎng)
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