用途：本設(shè)備適用于對(duì)產(chǎn)品零部件及材料進(jìn)行冷熱沖擊的試驗(yàn)。適用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，也是篩選電子元器件初期故障的設(shè)備。