芯片動態(tài)老化測試系統(tǒng)，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對半導(dǎo)體分立器件、光耦、運放、電壓調(diào)節(jié)器等集成電路電子元器件實時