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分光光度計已在藥檢、醫(yī)療衛(wèi)生、化學(xué)化工、環(huán)保地質(zhì)、冶金、石油、食品、生命科學(xué)、材料科學(xué)、農(nóng)業(yè)科學(xué)等各個領(lǐng)域的科研、生產(chǎn)中 , 得到廣泛的應(yīng)用。在定量分析、純度檢查方面更是的分析儀器。從事分光光度計計量檢定幾年來, 發(fā)現(xiàn)分光光度計使用中存在一些應(yīng)注意的問題。
1 應(yīng)注意待測溶液濃度過高(即吸光度太大)或過低(即吸光度太小)對測試結(jié)果準確性的影響在實際工作中, 用分光光度計測溶液時, 被測溶液濃度太高或太低都能產(chǎn)生比耳定律的偏離 ,從而使吸光度(透射比)誤差變大 。吸光度(透射比)誤差越大, 測量結(jié)果的可信性就越差。例如 :設(shè)某試樣的濃度為 C ,則由朗
伯—比爾定律: A =-1gT =εbc (1)式中 :A —物質(zhì)的吸光度;T —物質(zhì)的透光率 ;ε—物質(zhì)的吸光系數(shù);b —被分析物質(zhì)的光程;c—物質(zhì)的濃度。

將(1)式微分 ,

則 :  
 -d1gT =0.434d1nT =-0.434dT =εbc (2) 
(1)式除(2)式 ,則:  
 dc = -0.434  =dT  (3)
   c  T1gT  
將(3)式以有限式表示 ,則: 
 c = -0.434 T  (4)
 c  T 1gT  
(4)式中 c 為濃度相對誤差, T 為透光度誤差。
  一般分光光度計的 T 約為 ±0.2 %～ ±2.0 %。若按目前大多數(shù)分光光度計廠家標準的規(guī)定, 取 T = 0.5 %,代入(4)式 ,則計算出不同透光率或不同吸光度值的濃度相對誤差由表 1 可知, 濃度測量的相對誤差大小和吸光度值所處的范圍關(guān)系很大。因此在測樣中 , 選擇適當?shù)奈舛确秶浅Ｖ匾?。目前分光光度計使用者所使用?721 、722 、723 、752 、756 等分光光度計的吸光度線性動態(tài)范圍都很小, 有的在(0.2 ～ 0.9)A 左右, 因此分光光度計的使用者應(yīng)注意通過改變吸收池厚度或待測樣的濃度 , 使被測吸光度讀數(shù)在儀器的吸光度線性動態(tài)范圍內(nèi) ,從而減小比耳定律的偏離 ,得到較準確的測量結(jié)果。2 應(yīng)注意儀器“0”點和基線的校準對測試結(jié)果準確性的影響儀器“0”點的校準主要針對可見分光光度計中,“0”點和“100 %”點分開調(diào)校的儀器。有些分光光度計使用者在用分光光度計測樣時, 當大幅度改變波長時 ,會稍等片刻,等燈熱平衡后 , 重新校準“100 %” 點, 而忽視“0”點的重新校準。其實在大幅度改變波長重新校準“100 %” 點后,“0”點的數(shù)值也改變了, 如果不進行“0”校準 ,“0”點的數(shù)值將直接影響測試結(jié)果的準確性。正確做法應(yīng)在大幅度改變波長后 , 先重新校準“100 %”點再重新校準“0”點然后測樣。

基線的校準主要針對帶全波長掃描功能的分光光度計。當分光光度計使用者使用波長掃描功能對樣品測試、分析時(尤其當被測樣品濃度較小時), 就必須注意儀器基線的好壞對測試結(jié)果的影響。因為當基線偏離吸光度“0A”以下時(即發(fā)生負偏), 如果掃描分析的樣品濃度較小 ,吸光度峰值比較低 ,可能就檢測不出樣品值 ,從而影響到測試結(jié)果。所以在測量前應(yīng)進行基線校準(以空氣為參比樣)。而在基線校準后怎樣判斷基線是否校準成功,方法如下:首先選擇波長掃描功能, 在掃描參數(shù)設(shè)置中 :將掃描模式為 :A(即吸光度), 吸光度量程將掃描速度設(shè)為:中速;波長范圍設(shè)為 :實際需要波長范圍;取樣間隔:1nm ;儀器光譜帶寬 2nm (無光譜帶寬調(diào)整擋的儀器不設(shè))。