自動低溫閉口閃點(diǎn)測驗儀是按照國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T261-2008及ISO2719-1988標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計制造的，采用多個單片機(jī)，組成功能強(qiáng)大的主控部件。