方塊電阻/電阻率四探針測試儀TCWSP-51一、結(jié)構(gòu)特征二、概述TCWSP-51型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。