X-射線鍍層測厚及金屬分析儀EX-3000
Fischerscop® X-RAY System
×DL® -B及×DLM® -C4是采用技術標
準ASTM及B568,DIN60987, ISO
3497的×一射線熒光分析法來進行測
量, 不但可以測量金屬層厚度及金屬之
間的比重, 還可以進行金屬物料分析。
Fischerscop® X-RAY Systenl ×DL® 一B及
×DLM@-C4是采用全新數學計算方法來進行鍍層厚度
的計算, 在加強的軟件功能之下, 簡化了測量比較復
雜鍍層的程序, 甚至可以在不需要標準片之下, 一樣
可以測量。
它還采用*的焦距距離計算辦法(DCM), 操作
員現在可以隨時改變焦距測量, 對一些形狀復雜的工
件尤其方便。
Fischerscop® X-RAY System ×DL® 一B及×DLM® -C4功能包括: 特
大及槽口式的測量箱、 向下投射式×-射
線, 方便對位測量、軟件在視窗98下操
作、 可在同一屏幕清楚顯示測量讀數及