在工業(yè)過程控制分析中,分析儀器的靈敏度、精度及分析速度是至關(guān)重要的。光譜儀SPECTRO iQ II 在這一領(lǐng)域已建立了相應(yīng)標準。全新的iQ II 在此基礎(chǔ)上進一步改進了技術(shù),提高了操作簡便性和可靠性。
在許多情況下,iQ II 在測定主要成分的精度及重要痕量元素的靈敏度可以同價格昂貴的波長色散型X熒光光譜儀相媲美。以往只能用波長色散型X熒光光譜儀完成的分析任務(wù),現(xiàn)在通過公司*的偏振能量色散型儀器即可出色地完成。
光譜儀iQ II 它采用低能量X射線管和開發(fā)的C-Force 偏振光學系統(tǒng),確保了對樣品中元素的*激發(fā)。使用Pd準直器,iQ II 具有分析低含量Zr、Mo等元素的能力。在僅僅幾百秒的分析時間內(nèi),即可測定油中的超低硫含量。因此,開發(fā)出的iQ II 具有的分析輕元素的能力。
iQ II 軟件的特點:簡單明了。圖文式用戶操作界面,使日常操作所相關(guān)的重要功能清晰明確。觸屏操作,更為簡單直觀。