美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀CI-710功能強(qiáng)大，可以非破壞性測(cè)量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜。
美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
?CI-700系列之葉片光譜分析儀CI-710功能強(qiáng)大，可以非破壞性測(cè)量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜
?通過(guò)光譜可以定性、定量的研究葉片內(nèi)各組分葉綠素a或b、蛋白質(zhì)、糖、礦物質(zhì)等含量及比例變化美國(guó)CID代表處在哪
?直觀的光譜圖像和現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ),為植物葉片光合作用、植物遺傳特性、植物脅迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段
美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
?非常便攜，適合于室內(nèi)或野外使用
?非破壞性精密地測(cè)量葉片在400~950nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)的反射率、透射率和吸收率
?掃描速度快，靈敏度高
?USB接口連接UMPC數(shù)據(jù)處理終端
?樣品類(lèi)型，葉片或扁平的物體美國(guó)CID代表處在哪
美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀標(biāo)準(zhǔn)配置：
?光譜探測(cè)器、CI-700LP葉夾、光纖、UMPC數(shù)據(jù)終端、光譜分析軟件、說(shuō)明書(shū)、便攜式儀器箱
我們會(huì)努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯，如技術(shù)參數(shù)中英文有差異，以英文參數(shù)為準(zhǔn)。
美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀技術(shù)參數(shù)：美國(guó)CID代表處在哪
| 測(cè)量方式： | 非破壞性測(cè)量葉片 |
| 測(cè)量光譜： | 葉片透射、吸收和反射光譜 |
| 樣品類(lèi)型： | 葉片或扁平的物體 |
| 檢測(cè)器： | CCD線性陣列探測(cè)器 |
| 掃描波長(zhǎng)范圍： | 400～950 nm |
| 采樣速度： | 3.8ms-10s |
| 光偏離： | ＜0.05%在600nm;0.10%在435nm |
| 分辨率： | 0.3～10.0nm FWHM |
| 采樣直徑： | 7.6 mm |
| 線性修正： | >99.8%美國(guó)CID代表處在哪 |
| 配有CI-700LP葉夾 | |
| 尺寸： | 89.1 x 63.3 x 34.4 cm |
| 重量： | 290g |
美國(guó)CID CI-710葉片光譜探測(cè)儀
