CEM3000系列超清掃描顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。其抗振設(shè)計，在充滿機械振動和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

CEM3000在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

核心優(yōu)勢

1、緊湊靈活，突破空間限制

（1）臺式設(shè)計，體積小巧，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動實驗室），節(jié)省實驗室空間。

（2）支持快速移機，一臺設(shè)備滿足多場景需求，助力科研效率提升。

2、高性能，納米級分辨率

（1）空間分辨率優(yōu)于4nm（SE），支持高達200,000倍放大，精準(zhǔn)捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀形貌。

（2）高襯度成像系統(tǒng)，快速掃描也能清晰呈現(xiàn)微弱信號，滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的需求。

3、抗振防磁，穩(wěn)定無懼挑戰(zhàn)

（1）特殊隔振設(shè)計（CEM3000B搭載復(fù)合抗振系統(tǒng)），消除環(huán)境振動與電磁干擾，保障高倍成像質(zhì)量。

（2）適用于工業(yè)車間、車載實驗室等復(fù)雜環(huán)境，穩(wěn)定可靠。

4、高效便捷，一鍵智能操作

（1）快速抽放氣技術(shù)：低真空模式僅需40秒（CEM3000B），高真空模式快1.5分鐘，大幅縮短等待時間。

（2）自動對焦、消像散、圖像增強功能，一鍵生成高質(zhì)量圖片，降低操作門檻。

5、靈活拓展，滿足多樣需求

（1）可選配低真空系統(tǒng)（5~100Pa），兼容導(dǎo)電/非導(dǎo)電樣品觀測。

（2）支持二次電子、背散射電子探頭及能譜儀，搭配顆粒統(tǒng)計、孔隙率測量等定制功能，滿足多領(lǐng)域分析需求。

CEM3000系列超清掃描顯微鏡則憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

產(chǎn)品功能

1）臺式電鏡緊湊的外型，CEM3000系列臺式掃描電鏡能夠不受場地尺寸制約，真正做到了空間適用性，用戶甚至可以將其就近擺放在自己的桌面上。同時CEM3000也能根據(jù)用戶需求，輕松移機，一臺機器多處開花；

2）高分辨率，能夠?qū)ξ⒊叽缣卣鬟M行觀測分析，滿足用戶的觀測需求；

3）快速抽放氣，憑借真空系統(tǒng)設(shè)計，該系列臺式電鏡縮短了用戶抽放氣的等待時間；

4）高易用性，能夠快速成像、一鍵出片，用戶使用自動調(diào)節(jié)功能，無需過多人工操作，就可得到高質(zhì)量拍攝圖片；

5）大樣品倉，CEM3000A在保證較小外型尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

6）高抗振防磁性能，全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B使用本公司技術(shù)，基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度；

7）可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉內(nèi)真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測；

8）能夠提供多種成像參數(shù)供用戶選擇，滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

9）搭配有多種探頭，能夠?qū)悠愤M行多種手段的分析。

應(yīng)用領(lǐng)域

該電鏡外型緊湊，空間適用性強，整機采用大量的抗干擾設(shè)計，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富的自動調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌愋偷臉悠愤M行觀測，具有高空間分辨率。

用戶可在CEM3000系列臺式掃描電鏡上搭配不同的探頭，同時接收多種信號，對樣品進行分析。

應(yīng)用范例：

部分技術(shù)指標(biāo)

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