WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡符合《GB/T 35391-2017無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)計(jì)算機(jī)層析成像(CT)檢測(cè)用空間分辨力測(cè)試卡》要求
線對(duì)卡,按分辨力高低分為三種:
線對(duì)卡是用來(lái)測(cè)試工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨力的一種標(biāo)準(zhǔn)試件,它是由鋼、硅或其他由供需雙方商定的材料制作的薄片構(gòu)成的線對(duì)組,每個(gè)線對(duì)組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成(薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開(kāi)),兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準(zhǔn)塊,其三維結(jié)構(gòu)如圖1、正視圖如圖2所示。
WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡實(shí)物拍攝圖:
WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡參數(shù)規(guī)格:
等級(jí) | 第1組 | 第2組 | 第3組 | 第4組 | 第5組 | |||||
片厚T mm | 線對(duì)數(shù) Lp/mm | 片厚T mm | 線對(duì)數(shù) Lp/mm | 片厚T mm | 線對(duì)數(shù) Lp/mm | 片厚T mm | 線對(duì)數(shù) Lp/mm | 片厚T mm | 線對(duì)數(shù) Lp/mm | |
Ⅲ級(jí) | 0.100 | 5.0 | 0.125 | 4.0 | 0.150 | 3.3 | 0.200 | 2.5 | 0.250 | 2.0 |
Ⅱ級(jí) | 0.150 | 3.3 | 0.200 | 2.5 | 0.250 | 2.0 | 0.300 | 1.7 | 0.500 | 1.0 |
Ⅰ級(jí) | 0.250 | 2.0 | 0.300 | 1.7 | 0.500 | 1.0 | 0.650 | 0.8 | 1.000 | 0.5 |
每個(gè)線對(duì)組中的薄片長(zhǎng)度L 為10mm,寬度W為8mm。
圖片 | |||
等級(jí) | Ⅰ級(jí) | Ⅱ級(jí) | Ⅲ級(jí) |
線對(duì) | 0.5至2.0LP/m | 1.0至3.3LP/m | 2.0至5.0LP/m |
尺寸(mm) | 45Lx26Wx20H | 33Lx26Wx20H | 30Lx26Wx20H |
圓孔卡或細(xì)絲卡,按孔徑或絲徑大小分為兩種:
WEK35391-2017圓盤卡
圓孔卡是在均質(zhì)圓柱形基體上,加工一系列直徑不同的圓形孔,圓孔按行有序排列,其結(jié)構(gòu)如圖3所示。細(xì)絲卡是在均勻低密度圓柱形基體上,排列一系列直徑不同的細(xì)絲,細(xì)絲按行有序排列。
圓盤卡是由均質(zhì)的剛性材料制作的圓柱體,其結(jié)構(gòu)如下圖所示。圓盤卡材質(zhì)應(yīng)與被檢測(cè)物體的射線吸收特性相同或相近,推薦使用鋼或硅(或由供需雙方商定的材料制作)。