步入式環(huán)境試驗箱廣泛應(yīng)用于電源電子、計算機、通訊等領(lǐng)域產(chǎn)品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）的溫濕度環(huán)境測試。通過測試檢驗產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。為企業(yè)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品問題，改進提高產(chǎn)品質(zhì)量，提升品牌競爭力提供強有力的保障。
步入式環(huán)境試驗箱的技術(shù)參數(shù)：
一、產(chǎn)品名稱 | 恒溫恒濕試驗室 |
1、1型號 1、2設(shè)備容積 1、3內(nèi)箱尺寸 1、4外型尺寸約 | LQ-RM- 1000L W 100 x H 100 x D 100 cm （寬 x高 x深） 約W 155 x H 210 x D 155 cm（寬 x高 x深）（以實際尺寸為準） |
二、參數(shù)性能 | |
2、1測試環(huán)境條件 | 環(huán)境溫度為+30℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下 |
2、2溫度使用范圍 | 0℃～+150℃ |
2、3濕度使用范圍 | 30%～95%R.H（參照一般型溫濕度可控制范圍圖，無有源濕、熱負載）
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2、4溫濕度波動度 | 溫度≤±1℃ 濕度≤±3.0%RH （溫度波動度為中心點實測溫度和溫度之差的一半） |
2、5溫度均勻度 | ≤±2℃（溫度均勻度為每次測試中實測溫度和溫度之差的算術(shù)平均值） |
2、6溫濕度誤差 | 溫度：≤±3℃ 濕度：≤±3.0%RH （工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點實測的平均溫度） |
2、7控制精度 | 溫度：≤±0.5℃ 濕度：≤±2.0%（指控制器設(shè)定值和控制器實測值之差） |
2、8溫度解析精度 | 0.01℃ (即是溫度范圍可以解析精確到小數(shù)點后面的兩位數(shù)） |
2、9濕度解析精度 | 0.1%R.H (即是濕度范圍可以解析精確到小數(shù)點后面的一位數(shù)） |
2、10升溫時間 | 約3.0℃/分鐘 非線性 空載 |
2、11降溫時間 | 約1.0℃/分鐘 非線性 空載 |
2、12滿足試驗標準 | GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備 GB/T 5170.5-2008 濕熱試驗設(shè)備 GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)低溫試驗方法：試驗A GJB150.3-1986 高溫試驗 GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)恒定濕熱試驗方法Cab GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交變濕熱試驗方法Db GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法 GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法 GJB150.9-1986 設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗 GJB4.5-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗 GJB4.6-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗 GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法411 濕熱試驗 GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗 GB10592-2006 高、低溫試驗箱技術(shù)條件 GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件 GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件 GJB150.9-1986 濕熱試驗 （每立方米負載不大于35kg/m3熱容量，濕熱試驗時無有源濕、熱負載） |
