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芯片老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester

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公司名稱成都中冷低溫科技有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)
所在地成都市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/10/30 14:12:16
訪問次數(shù)114

產(chǎn)品標(biāo)簽:

Small Burn-in Tester 芯片老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)方案系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

成都中冷低溫科技有限公司簡(jiǎn)稱中冷公司(CHINACRYO)是一家專注于超低溫解決方案的創(chuàng)新型高科技公司，企業(yè)通過*、歐盟CE認(rèn)證。公司主要生產(chǎn)高低溫沖擊氣流儀（熱流儀）、超低溫制冷機(jī)、高低溫循環(huán)箱、高低溫沖擊箱、環(huán)境模擬倉、老化測(cè)試設(shè)備等，各種為5G通訊、光模塊、集成電路、芯片、航空航天、天文探測(cè)、電池包、氫能源等領(lǐng)域的可靠性測(cè)試提供整套溫度環(huán)境解決方案，位于成都總部的技術(shù)中心超過3000平方米，在天津、上海、蘇州、深圳、武漢、珠海、重慶設(shè)有辦事機(jī)構(gòu)。公司核心技術(shù)團(tuán)隊(duì)成員平均行業(yè)經(jīng)驗(yàn)超過12年，超過40%的工程師擁有高級(jí)職稱,擁有外國(guó)企業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)工程師超過30%。公司自主研發(fā)的高低溫沖擊氣流儀（熱流儀）和超低溫制冷機(jī)處于靠前地位，出口歐美及東南亞，在業(yè)內(nèi)有較高的認(rèn)可度。

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高低溫沖擊設(shè)備，氣流儀，熱流罩

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芯片老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、運(yùn)放、電壓調(diào)節(jié)器等集成電路電子元器件實(shí)時(shí)測(cè)試，免去了以往要拿出高低溫箱再進(jìn)行測(cè)試的不便及誤差。

芯片老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester 產(chǎn)品信息

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芯片老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester

高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、運(yùn)放、電壓調(diào)節(jié)器等集成電路電子元器件實(shí)時(shí)測(cè)試，免去了以往要拿出高低溫箱再進(jìn)行測(cè)試的不便及誤差。

芯片老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester

◆測(cè)試艙溫度范圍:-55℃至 +150℃(-65℃至 +200℃可選)

◆ 測(cè)試艙溫度穩(wěn)定性:±2℃

◆ 測(cè)試艙溫度穩(wěn)定均勻度:±2℃

◆ 測(cè)試艙升溫時(shí)間:從常溫升溫到+150℃用時(shí)10分鐘

◆ 測(cè)試艙降溫時(shí)間:從常溫降溫到-55℃用時(shí)20分鐘

◆ 測(cè)試艙功率:根據(jù)設(shè)定艙體溫度不同

◆ 冷卻方式:風(fēng)冷機(jī)械制冷，能有效降低工作負(fù)荷更加節(jié)能可靠性更高

◆ 可編程鍵盤:用戶可自定義測(cè)試艙溫度，或按一定比率步進(jìn)設(shè)置溫度變化及溫度循環(huán)

◆ 器件測(cè)試:多工位被測(cè)器件可單步測(cè)試也可以連續(xù)測(cè)試

◆ 接口控制:測(cè)試艙可通過IEEE總線或RS232端口程控

關(guān)鍵詞：電子元器件