步入式高溫老化設(shè)備與可控溫實驗箱只是尺寸容量的大小區(qū)別，兩個產(chǎn)品的共同點都是可控制溫度，也就是從生產(chǎn)廠家設(shè)備設(shè)定的溫度范圍內(nèi)可隨意設(shè)定并控制恒定或交變來做試驗。溫控也就是溫度被控制的意思，跟控溫是一樣的意思。可溫控實驗室|可控溫實驗箱常用于自動化零組件、汽車部件、玩具、電工電工產(chǎn)品、顯示器、電池、電源供應(yīng)器、LED、光電、主機板、監(jiān)視器塑膠、、交換式充電器、化工等工業(yè)產(chǎn)品之耐熱、耐寒的實驗。

可選參數(shù)：

溫度范圍 -40~+80℃ -20~+80℃ 0~+80℃ -70~+80℃ -60~+80℃。

濕度范圍 30~98%RH 1。

濕度誤差：+2/-3%R.H。     

升溫時間：平均3℃/min。

降溫時間：平均1℃/min。

冷卻方式：水冷 。

控制器：韓國 液晶觸摸屏溫度控制器,PID控制算法。

.裝有的安全保護裝置：溫度上限控制,  壓縮機超載, 加熱器短路漏電斷路器、超溫保護器、缺相保護器、斷水保護器。

電源 AC200V 3Φ 3W 50Hz也可選擇AC380V 3Φ4W 50Hz。

步入式高溫老化設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn):

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗。

GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)。

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求。

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