JB/T8133.2電阻率測(cè)試儀
一參照標(biāo)準(zhǔn)standard： JB/T8133.2-1999 電炭制品物理化學(xué)性能試驗(yàn)方法. 二.適用范圍Applicable range： 本標(biāo)準(zhǔn)適用于電刷及其他電炭制品電阻率的測(cè)定.三.功能描述Function de 直流恒流源輸出系統(tǒng)結(jié)合集成電路芯片控制，液晶顯示屏幕，直讀電阻，電壓降，電阻率；參數(shù)和功能設(shè)定通過(guò)薄膜面板實(shí)現(xiàn)，提供USB、232通訊接口；可以連接打印機(jī)、電腦和外接控制單元，選配PC軟件可以獲得過(guò)程數(shù)據(jù)，測(cè)試報(bào)表處理、存儲(chǔ)和數(shù)據(jù)分析產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量管控.在PC軟件下可以獲得電流、電阻率、電阻和電壓降變化曲線及數(shù)據(jù)模型，為產(chǎn)品質(zhì)量建立數(shù)據(jù)庫(kù).測(cè)試探針為鎢針材質(zhì)，間距偏差為1% 試樣尺寸10*10*64mm，探針間距為25mm；4*8*32mm探針間距為16mm 四.參數(shù)資料 parameters 測(cè)量項(xiàng)目 Measurement items 規(guī)格 Technical specifications 分辨率Accuracy 1.測(cè)試電流（選購(gòu)）current (optional) 0-40A 0-60A 0-100A 0.01A 2.測(cè)試電壓voltage 0-32V 0.01V 3.電壓降范圍Voltage drop 0-1999.99mV 0.01mV 4. 測(cè)試時(shí)間time 測(cè)試時(shí)間999.9s任意設(shè)定Testing time 999.9S 5．電阻resistance 0.1μΩ—2KΩ.分辨率/resolution 0.01μΩ 6.電阻率resistivity 0.1μΩ.m—2KΩ.m 7.電流密度current density 測(cè)試電流分布密度test current distribution density 關(guān)鍵詞：顆粒強(qiáng)度測(cè)試儀，顆粒測(cè)試儀，強(qiáng)度測(cè)試儀，ASTM D4179顆粒強(qiáng)度測(cè)試儀，催化劑顆粒強(qiáng)度測(cè)試儀，藥片顆粒強(qiáng)度測(cè)試儀，飼料顆粒強(qiáng)度測(cè)試儀，藥品顆粒強(qiáng)度測(cè)試儀，化肥顆粒強(qiáng)度測(cè)試儀，
