FT-330系列普通四探針方阻電阻率測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購. 規(guī)格型號(hào)FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方塊電阻范圍10-4～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.電阻率范圍10-5×106cm10-5×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×104-cm3.測(cè)試電流范圍0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA4.電流精度±0.1%讀數(shù)±0.2%讀數(shù)±0.2%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)5.電阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.顯示讀數(shù)液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率7.測(cè)試方式普通單電測(cè)量8.工作電源輸入: AC 220V±10% 50Hz 功耗：<30W 9.整機(jī)不確定性誤差≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）10.選購功能選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)