實時太赫茲光譜儀T-SPEC 

太赫茲光譜儀是用于脈沖太赫茲波研究應(yīng)用的強大工具。憑借簡單而強大的設(shè)計，它易于使用并且可適應(yīng)個性化需求。

在低溫生長的GaAs襯底上制造的微帶光電導天線的設(shè)計可確保寬帶光譜覆蓋范圍和高動態(tài)范圍。該系統(tǒng)設(shè)計有兩條延遲線：快速和慢速?？焖賿呙杈€允許以10頻譜/秒的速度和116 ps的時間窗口進行實時數(shù)據(jù)采集。所收集頻譜的平均值可以在大脈沖時將動態(tài)范圍提高到90 dB，并將頻譜范圍擴展到5 THz。附加的慢延遲線允許多個時間窗口的組合；因此，光譜儀獲得了高達1 GHz的出色光譜分辨率?？焖賿呙杈€設(shè)計為不帶軸承，并使用磁耦合驅(qū)動器，這使其極為可靠并大大延長了使用壽命。

T-SPEC光譜儀的外殼上裝有進氣口。當實驗需要特殊的環(huán)境條件（例如氮氣或干燥的空氣）時，它可用作清洗箱。寬敞的樣品區(qū)可輕松集成低溫恒溫器或加熱器等其他設(shè)備。

根據(jù)特殊需求，我們可以提供此類設(shè)備的集成，以確保良好的配合，光譜儀箱的密封，隔振和操作自動化。

光譜儀配備有兩個標準光譜模塊，用于透射和反射配置。每個模塊都包含電動樣本操縱器。這允許一個接一個地測量多個樣品，而無需物理訪問光譜儀。反射模塊具有方便的垂直結(jié)構(gòu)，太赫茲光束從底部到達樣品并向后反射。只需將被測樣品放在樣品架上即可快速更換。更改樣本或更改模塊時都不需要調(diào)整。

我們的T-SPEC系列光譜儀是寬帶THz成像的理想選擇。它可以掃描多達25×25 mm的樣品，空間分辨率約為。1毫米 測量包含有關(guān)目標的信息，可揭示結(jié)構(gòu)和光譜信息。

T-SPEC光譜儀可用于光泵THz探頭測量。這允許研究半導體，納米晶體和其他材料中的載流子動力學。附加光學器件的一部分放置在光譜儀內(nèi)部；帶有延遲線的另一部分安裝在T-SPEC外墻上。在大約1ns的時間分辨率下，多可以進行1 ns的測量。0.5 ps。

如果客戶擁有自己的780 nm或1060 nm fs激光器，TERAVIL可以提供該激光器采用的T-SPEC光譜儀。光學和太赫茲光束路徑將被預先對準。因此，僅需要將激光束饋入光譜儀的光學裝置即可。激光必須滿足以下參數(shù)：脈沖持續(xù)時間?100 fs，重復頻率在10-100 MHz范圍內(nèi)。

【特征】

頻譜范圍高達5 THz

高動態(tài)范圍> 90 dB @ 0.4 THz

實時數(shù)據(jù)采集速度高達10個光譜/秒

高達1 GHz的出色頻譜分辨率

快速延遲線的“無軸承”設(shè)計–幾乎無限的使用壽命

透射，反射，光泵THz探頭模式

高空間分辨率太赫茲成像

完整的PC控制

用戶友好的軟件

【應(yīng)用領(lǐng)域】

化學材料表征

半導體的載流子壽命和遷移率

介電性能和復折射率

超材料研究

醫(yī)學和生物無損研究

厚度測量

實時太赫茲光譜儀T-SPEC 

分光計配備兩個標準分光計模塊。用于傳輸和反射配置。每個模塊都包含電動樣本操縱器。這使得可以一個接一個地測量多個樣品，而無需物理訪問分光計。反射模塊具有方便的垂直結(jié)構(gòu)，其中THZ光束從底部到達樣品并向后反射。只要把被測樣品放在樣品架上，就可以很快地更換它們。無論是更換樣品還是更換模塊，都不需要進行調(diào)整。我們的T-SPEC系列光譜儀是寬帶THZ成像的理想選擇。它允許掃描高達25×25 mm的樣品，空間分辨率約為1 mm。測量包含了有關(guān)目標的信息，揭示了結(jié)構(gòu)和光譜信息。