顆粒碰撞臺(tái)用于電子元器件封裝后，對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn)，目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種工藝性試驗(yàn)。用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。
主要技術(shù)參數(shù)
- 頻率范圍(Hz)：20~400
- 振動(dòng)加速度(m/s2)：250
- 沖擊加速度(m/s2)：15000
- 位移(mm)：±3
微顆粒碰撞臺(tái)
| 參考價(jià) | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱蘇州東菱振動(dòng)試驗(yàn)儀器有限公司
- 品 牌
- 型 號(hào)
- 所 在 地蘇州市
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間2024/10/5 7:07:17
- 訪問次數(shù)132
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公司簡介
低頻校準(zhǔn)儀
微顆粒碰撞臺(tái) 產(chǎn)品信息
關(guān)鍵詞：電子元器件
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