研究人員不斷探索納米機(jī)械的邊界，開發(fā)新的模型描述材料的近表行為。同樣，產(chǎn)品制造商不斷尋找改進(jìn)驗(yàn)證生產(chǎn)工藝和產(chǎn)品材料。這兩種情況都需要準(zhǔn)確表征納米性能。布魯克NanoForce™納米機(jī)械性能測試系統(tǒng)提供的納米機(jī)械性能表征技術(shù)，非凡的納米機(jī)械性能測量精度和原子力顯微鏡成像，為納米材料研究提供有力的支持。
布魯克NanoForceTM系統(tǒng)標(biāo)配超低負(fù)荷能力、動態(tài)測試和原子力顯微鏡成像，并提供閉環(huán)控制以實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)參數(shù)的化。NanoForceTM提供真正的納米機(jī)械性能測試能力，遠(yuǎn)超一般納米壓痕技術(shù)，促進(jìn)材料科學(xué)的新發(fā)現(xiàn)：
幾十年的優(yōu)秀設(shè)計(jì)構(gòu)成以用戶為中心和高性能的基礎(chǔ)
創(chuàng)新的硬件和軟件確保高準(zhǔn)確的測試
的系統(tǒng)設(shè)計(jì)實(shí)時(shí)控制測試過程中所有的環(huán)境變量
靈活的內(nèi)置模塊構(gòu)成一套完整的測試系統(tǒng)，無需其它附件
友好的軟件和直觀的界面提供便捷的數(shù)據(jù)訪問