- 產品介紹
德國菲希爾XDL X-RAY光譜膜厚儀,是發(fā)展繼承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列,其非破壞式的測量,特別適合五金的金屬鍍層厚度,測量快速、精確、無損.如一些五金零件、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量。菲希爾XDL X-RAY光譜膜厚儀,采用了高次數率的比例接收器,可以在沒有標準片的情況下,對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量,另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下,可測量多至24元素,這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL X-RAY光譜膜厚儀的長期穩(wěn)定性是十分高的,這使儀器減少校正所需要的時間及次數,便于管理儀器,并提高生產效率.應用范圍廣泛,包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層(如:裝飾性鉻的鍍層)、在電子及半導體行業(yè)中分析其功能性的鍍層、可用于電路板測量、電鍍槽中的藥水成份分析,已成為被廣泛應用的自動測定涂鍍層厚度的專用儀器。