| | | | | | | 一、用途
XPN-203 系列偏光熔點測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等專業(yè)的專業(yè)實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調(diào)節(jié)，及模糊手動調(diào)節(jié)功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值，儀表顯示 |  |  | | 電腦型偏光熔點儀 XPN-203E | 數(shù)碼偏光熔點儀 XPN-203Z |  查看大圖 | 查看大圖 | 準確、清晰、穩(wěn)定，對溫度控制可設定
程序，設有“上、下”限自動報警裝置，并可隨時檢查設定的溫度數(shù)據(jù)，是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱臺具有可擴展性，可以接計算機和數(shù)碼相機，對圖片進行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產(chǎn)品。 | | 二、系統(tǒng)簡介 | | 偏光熔點測定儀系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術、的光電轉(zhuǎn)換技術、的計算機圖像處理技術地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品?？梢栽陲@示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。 | | 三、技術參數(shù)： | 1.目鏡： | 類 別 | 放大倍數(shù) | 視場（mm） | | 網(wǎng)格目鏡 | 10X | φ18 | | 十字目鏡 | 10X | φ18 | | 分劃目鏡 | 10X | φ18 |
2.物鏡： | 類 別 | 放大倍數(shù) | 數(shù)值孔徑（NA） | 工作距離（mm） | 蓋玻片厚度（mm） | | 物 鏡 | 4X | 0.10 | 7.80 | - | | 10X | 0.25 | 4.70 | - | | 25X | 0.40 | 1.75 | 0.17 | | 40X | 0.65 | 0.72 | 0.17 | | 63X | 0.85 | 0.18 | 0.17 |
3.放大倍數(shù)：40X-630X 系統(tǒng)放大倍數(shù)：40X-2600X。
4.聚光鏡數(shù)值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調(diào)
5.起偏鏡：振動方向360°可調(diào)，帶鎖緊裝置，可移動光路
6.檢偏鏡:可移出光路，旋轉(zhuǎn)范圍90°內(nèi)置勃氏鏡，中心、焦距可調(diào)
7.補償器：λ片(φ18mm，一級紅，光程差551nm) λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子(12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級)
8.調(diào)焦系統(tǒng)：帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微調(diào)，格值為0.002mm
9.電光源：6V/20W鹵素燈（亮度可調(diào)） | 四、熱臺：
1.顯微精密控溫儀
在 20X 物鏡下工作溫度可達到300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，30段溫度編程，循環(huán)操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內(nèi)可維持時間，升溫速率可調(diào)、精度±0.3 ℃、記憶點讀數(shù)。
2.顯微加熱平臺
可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1
起始溫度室溫
工作區(qū)加熱使用面積至少1X1cm
工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1oC
透光區(qū)域 2mm以上，可調(diào)
顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2
熱臺可以隨載物臺移動
熔點測定 溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡 | | 五、系統(tǒng)組成 | 電腦型偏光熔點儀（XPN-203E）：1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3.攝像器(CCD) 4.A/D(圖像采集) 5、計算機
數(shù)碼相機型偏光熔點儀（XPN-203Z）：1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、數(shù)碼相機系統(tǒng) |  數(shù)碼顯微成像系統(tǒng) | | 電腦顯微成像系統(tǒng) | | | 六、選購件 | | | 1、高像素成像系統(tǒng) 2.偏光顯微鏡分析軟件 | | | | | | | | |
