半導(dǎo)體芯片HAST測試高加速老化測試機(jī)
HAST測試機(jī)Burn-in Chamber老化測試試驗(yàn)箱，是通過對樣品施加高溫高濕以及高壓的方式，實(shí)現(xiàn)對產(chǎn)品加速老化的一種試驗(yàn)方法。
廣泛用于PCB、IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)，高加速老化HAST箱HAST測試機(jī)Burn-in Oven，用于評估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。
高加速老化HAST箱HAST測試機(jī)Burn-in Oven主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力，的各種條件來完成，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)更安全：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水，符合guo家安全容器規(guī)范；
多重保護(hù)功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機(jī)保護(hù)；
穩(wěn)定性geng高：控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式，確保測試穩(wěn)定性；
濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設(shè)定；
智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存。
半導(dǎo)體芯片HAST測試高加速老化測試機(jī)
相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，如85°C/85％RH，HAST測試機(jī)Burn-in Chamber老化測試試驗(yàn)箱增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實(shí)現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評估的測試周期，節(jié)約時間成本。HAST測試機(jī)Burn-in Chamber老化測試試驗(yàn)箱，HAST高加速老化測試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)，特別是在PCB、半導(dǎo)體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品中，作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測試（如85C/85%RH-1000小時）的快速有效替代方案。
