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美國狄夫斯高DeFelsko POSITEST G/F機(jī)械涂層測厚儀

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱篤摯儀器（上海）有限公司
品牌
型號POSITESTG/
所在地上海市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/5/6 9:49:01
訪問次數(shù)153

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篤摯儀器（上海）有限公司以“優(yōu)質(zhì)成就價(jià)值——Focus On Better Quality”為宗旨，專注于計(jì)量檢測和材料分析設(shè)備的研究、引進(jìn)與推廣，公司以深厚的工程技術(shù)背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設(shè)計(jì)、開發(fā)周期、產(chǎn)品質(zhì)量、在役檢測等各方面顯著提升效率和可靠性。篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，涵蓋光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設(shè)備，努力為客戶解決日新月異的測量分析技術(shù)挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動著*制造技術(shù)的精益求精。

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產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

美國狄夫斯高DeFelsko公司研制的 POSITEST G/F機(jī)械涂層測厚儀可無損測量鋼材上的非磁性涂層, 如油漆、搪瓷、塑膠、鍍鋅層、滲金、電鍍等.? POSITEST G/GM鍍層測厚儀可用于測量電鍍、薄器膜、鋼上磷化膜?等的厚度。 POSITEST F/FM可無損檢測鋼上非磁性涂層的厚度，如油漆、搪瓷、塑膠、鍍鋅層、滲金、電鍍等。?

美國狄夫斯高DeFelsko POSITEST G/F機(jī)械涂層測厚儀產(chǎn)品信息

產(chǎn)品描述

美國狄夫斯高DeFelsko公司研制的 POSITEST G/F機(jī)械涂層測厚儀可無損測量鋼材上的非磁性涂層, 如油漆、搪瓷、塑膠、鍍鋅層、滲金、電鍍等. POSITEST G/GM鍍層測厚儀可用于測量電鍍、薄器膜、鋼上磷化膜等的厚度。 POSITEST F/FM可無損檢測鋼上非磁性涂層的厚度，如油漆、搪瓷、塑膠、鍍鋅層、滲金、電鍍等。

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)

精確

每個測厚儀均帶可溯源至美國IST的校準(zhǔn)證明

每個型號均可與校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和程序匹配

高耐磨硬質(zhì)合金探頭利于使用壽命的優(yōu)化和保證優(yōu)良精度的持久性

刻度盤的可調(diào)中心使校正調(diào)整變得簡單方便

符合國際和國內(nèi)測試標(biāo)準(zhǔn)

耐用

特別的紋理外殼,無懼機(jī)械沖擊,水,酸或溶劑

特別整體設(shè)計(jì),充分支承,強(qiáng)制定位,測量過程中無旋轉(zhuǎn)移動可能

選擇充分支承測量或僅使用前測量臂的探頭接觸涂層測量均可

稀土鈷磁鋼的持久磁性, 無需電池

防爆，的安全性

1年保證

使用簡便

設(shè)有直觀提示和聲音提示,提醒測量完畢

“V”形槽的探頭外殼設(shè)計(jì)和特別的儀器機(jī)座,便于在圓柱形樣品上的定位和測量

精湊,輕便,精確的平衡性,不受地心吸力(重力)影響，可在任何地方使用

GO/O-GO(啟動/禁動)按鈕可預(yù)設(shè)以備快速測量

探頭放置和轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)僅需一指操作

附帶的腕帶和說明書置于高質(zhì)皮革盒內(nèi)備用

技術(shù)參數(shù)

F型（F，FM）	G型（G，GM）
用于: 熱鍍鋅, 滲硬鉻, 油漆, 搪瓷, 塑膠涂層在鋼鐵上的測量	用于: 電鍍, 薄漆膜, 磷化膜在鋼鐵上的測量
測量范圍FM：0~80mil	測量范圍GM：0~8mils+
精度FM：±0.2 mils（4mils內(nèi)） ±5%的讀數(shù) （超過4mils時(shí)）	精度GM: 0.04mils （0.8mils以內(nèi)） ±5%的讀數(shù) （超過0.8mils時(shí)）
測量范圍F：0~2000μm	測量范圍G：0~200μm
精度F：±5μm (100μm內(nèi)) ±5%的讀數(shù) （超過100μm時(shí)）	精度F：± 1μm （20μm以內(nèi)） ±5%的讀數(shù) （超過20μm時(shí)）