產(chǎn)品描述
德國(guó)Elektrophysik（EPK）MiniTest720/730/740測(cè)厚儀-----創(chuàng)新的SIDSP技術(shù)提升了測(cè)量的精確性，新的MiniTest720/730/740涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，提高了了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的地位。MINITEST 700按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測(cè)量需求：如果您想單手測(cè)量，可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。
※FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò) ※SIDSP技術(shù)-新技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭
MiniTest720/730/740系列涂層測(cè)厚儀預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)您的時(shí)間和金錢：
所有MINITEST 700探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無(wú)涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢，儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外，還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)銷售需要，MINITEST 700滿足各種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。
| MiniTest720/730/740系列涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)： ※SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確 ※可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置) ※FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤 ※溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤 ※生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線 ※大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù) ※讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出 ※超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn) ※菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選 ※帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC ※可下載更新軟件 | |
| SIDSP技術(shù) |
| SIDSP是由ElektrPhysik（簡(jiǎn)稱EPK）研發(fā)的，涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)處理為數(shù)字形式。
SIDSP工作原理？ 跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過(guò)32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您精確的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理的信號(hào)質(zhì)量和精確度。厚度值通過(guò)探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢(shì)，為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。 |
為什么選擇SIDSP？
 | 1、SIDSP探頭具有的抗干擾性 2、SIDSP-測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性 3、高精確度的SIDSP探頭特征曲線在生產(chǎn)過(guò)程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的校準(zhǔn) 4、SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感 5、SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng) 6、SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償 |
| 技術(shù)參數(shù) | ||||
| 主機(jī)型號(hào) | MiniTest720 | MiniTest730 | MiniTest740 | |
| 探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 | |
| 數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 | |
| 存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | *多10,000個(gè) | *多10,000個(gè) | *多100,000個(gè) | |
| 統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù)、*小值、*大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) | |||
| 校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | |||
| 校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | |||
| 極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限 | |||
| 測(cè)量單位 | μm，mm，cm；mils，inch，thou | |||
| 數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | |||
| 電源 | 2節(jié)AA電池 | |||
| 標(biāo)準(zhǔn) |
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2
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| 操作溫度 /存放溫度 | -10℃~60℃/-20℃~70℃ | |||
| 體積 | 157mm x75.5mmx49mm | |||
| 重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)/230g(外置) | |
標(biāo)準(zhǔn)配置：
