Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用
功能豐富的高性能 SEM
Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒(méi)技術(shù),可產(chǎn)生的高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái),并且不會(huì)降低磁性樣品性能。
Apreo 受益于的透鏡內(nèi)背散射探測(cè),這種探測(cè)提供的材料對(duì)比度,即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時(shí)也不例外。新型復(fù)合透鏡通過(guò)能量過(guò)濾進(jìn)一步提高了對(duì)比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過(guò)濾??蛇x低真空模式現(xiàn)在的樣品倉(cāng)壓力為 500 Pa,可以對(duì)要求最嚴(yán)苛的絕緣體進(jìn)行成像。
通過(guò)這些優(yōu)勢(shì)(包括復(fù)合末級(jí)透鏡、高級(jí)探測(cè)和靈活樣品處理),Apreo 可提供出色的性能和多功能性,幫助您應(yīng)對(duì)未來(lái)的研究難題。
體驗(yàn) Apreo SEM 帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)
- 的復(fù)合末級(jí)透鏡可在任何樣品(即使在傾斜時(shí)或進(jìn)行地形測(cè)量時(shí))上提供優(yōu)異的分辨率(1 kV 電壓下為 1.0 nm),而無(wú)需進(jìn)行電子束減速。
- 作用極大的背散射探測(cè) - 始終保證良好的材料對(duì)比度,即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對(duì)電子束敏感樣品進(jìn)行 TV 速率成像時(shí)也不例外。
- 無(wú)比靈活的探測(cè)器 - 可將各個(gè)探測(cè)器部分提供的信息相結(jié)合,獲得至關(guān)重要的對(duì)比度或信號(hào)強(qiáng)度。
- 各種各樣的電荷緩解策略,包括樣品倉(cāng)壓力為 500 Pa 的低真空模式,可實(shí)現(xiàn)任何樣品的成像。
- 的分析平臺(tái)提供高電子束電流,而且光斑很小。樣品倉(cāng)支持三個(gè) EDS 探測(cè)器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對(duì)分析進(jìn)行了優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。
- 樣品處理和導(dǎo)航極其簡(jiǎn)單,具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。
- 通過(guò)高級(jí)用戶指導(dǎo)、預(yù)設(shè)和撤消功能為新用戶提供專家級(jí)結(jié)果。