隨著科技的進步和工業(yè)的發(fā)展,產(chǎn)品質(zhì)量和安全的要求越來越高,對于產(chǎn)品的強度和耐久性的測試也越來越重要。推拉力測試機作為一種重要的測試設(shè)備,在工業(yè)和科學(xué)研究領(lǐng)域中被廣泛使用。晶片芯片測試儀多功能推拉力測試機
推拉力檢測儀,很多朋友又稱它為多功能剪切力測試儀,主要是用于光模塊、TO封裝、5G光器件封裝、合金線、粗鋁線鍵合汽車電子、航空航天、微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領(lǐng)域的專用動態(tài)測試儀器,具有測試動作迅速、準確、適用面廣的特點。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領(lǐng)域以及各類院校教學(xué)和研究。晶片芯片測試儀多功能推拉力測試機
產(chǎn)品特點:
1.采用精密動態(tài)傳感采集技術(shù),確保測試數(shù)據(jù)的精度的真實性。
2.三軸運動平臺,雙搖桿控制機器操作簡單快捷。
3.采用3D立體傳感技術(shù),自動測試功能保證測試精度及數(shù)據(jù)準確性。
4.只需手動更換相對應(yīng)的測試頭即可實現(xiàn)推力及拉力測試功能。
產(chǎn)品參數(shù):
設(shè)備型號:LB-8000D
測試精度:±0.25%
測試范圍:推力0-5000克(可根據(jù)客戶,配置不同傳感器)
工作方式:推針及拉針180度垂直與測試產(chǎn)品接觸,確保數(shù)據(jù)的準確性
外型尺寸:長:500mm寬:550mm高:440mm
傳感器更換方式:手動
操作系統(tǒng):控制系統(tǒng)+Windows操作界面
平臺夾具:機臺可共用各種夾具,夾具可360度旋轉(zhuǎn)
X軸行程:75mm
X軸分辨率:+/-0.002mm
Y軸行程:75mm
Y軸分辨率:+/-0.002mm
Z軸行程:75mm
乙軸分辨率:+/-0.001mm
重量:35kg
功率:300W(MAX)
電源:220V±5%