低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)

環(huán)境條件對(duì) 電氣部件、 設(shè)備和裝置的功能性和可靠性有著重要的影響。為了 能在*短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)潛在的缺陷，通常只靠常規(guī)的溫度檢測(cè)是不夠的；樣品 必須多次被施加 劇烈的溫度變化。使用我們的LAB COMPANION低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)實(shí)現(xiàn) –80 °C 至 +220 °C 范圍內(nèi)的極快速溫度切換。由此， 您可以降低早期失效風(fēng)險(xiǎn)并提升您產(chǎn)品的 可靠性。可再生、經(jīng)認(rèn)證并且經(jīng)久耐用。

Lab Companion空氣間熱沖擊試驗(yàn)箱（低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)系列），水平或垂直試驗(yàn)箱帶有兩個(gè)空間，分別適用2種不同的溫度的沖擊箱（高溫、常溫和低溫）。有60，120和300升可選。也可以根據(jù)客戶需求定制更大容積的沖擊試驗(yàn)箱。該系列根據(jù)客戶場(chǎng)地和不同的試驗(yàn)需求分為水平結(jié)構(gòu)、垂直結(jié)構(gòu)以及三箱式，該系列具備提供客戶一箱多用功能，可以滿足GJB150.5-2009中的兩種試驗(yàn)方法。

低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)系列空氣介質(zhì)垂直傳動(dòng)熱沖擊試驗(yàn)箱

雙溫區(qū)，單吊籃， (- 2) （一熱區(qū)和一冷區(qū)） 試件位于一個(gè)吊籃中，傳送于冷、熱區(qū)之間。 雙溫區(qū)，雙吊籃，雙倍功效（-2D） （雙熱區(qū)和一冷區(qū)） 冷區(qū)一直工作，提高設(shè)備使用效率。

低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)系列空氣介質(zhì)水平傳動(dòng)沖擊箱

雙溫區(qū)，單吊籃（-2） （一熱區(qū)和一冷區(qū)） 試件位于一個(gè)吊籃中，水平傳送于冷、熱區(qū)之間。 雙溫區(qū)，雙吊籃，雙倍功效（-2D） （雙熱區(qū)和一冷區(qū)） 雙吊籃帶來(lái)雙倍的負(fù)載測(cè)試能力；由于冷區(qū)一直工作，從而提高了設(shè)備使用效率。 三溫區(qū)，單吊籃 （-3 ） (一冷區(qū)、一常溫區(qū)和一熱區(qū)) 試件位于一個(gè)吊籃中，水平傳動(dòng)于冷區(qū)和常溫區(qū)之間，熱區(qū)自行移動(dòng)覆蓋位于常溫區(qū)內(nèi)吊籃。

沖擊溫度范圍：-70℃~+150℃

溫度恢復(fù)時(shí)間：≤ 5min

轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10s

溫度均勻性：≤2℃

溫度偏差： ±2℃

溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

型號(hào)說(shuō)明

低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品系列號(hào) 300 工作室容積（單位：L）

2C 結(jié)構(gòu)方式：2C表示兩箱式

3C結(jié)構(gòu)方式：S表示三箱式 -40表示溫度沖擊范圍: 40：*低-40℃；55：*低-55℃；65：*低-65℃

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 部件溫度考核時(shí)間保證功能，僅當(dāng)被測(cè)試件達(dá)到設(shè)定溫度時(shí)才進(jìn)行吊籃傳送

· 提供額外的熱能，有效滿足MIL-STD 833H要求

· 進(jìn)/回風(fēng)空氣溫度控制選擇開(kāi)關(guān)

· 每個(gè)溫區(qū)都有儲(chǔ)能構(gòu)件，以用于加熱和制冷的峰值需求

· 使用無(wú)損臭氧層的綠色環(huán)保制冷劑

安全性 :

· 電子聯(lián)動(dòng)安全門鎖（開(kāi)門停機(jī)聯(lián)動(dòng)）

· 電子機(jī)械吊籃鎖定裝置（吊籃鎖定裝置）

· 傳送報(bào)警裝置

· 原廠設(shè)定設(shè)備超溫保護(hù)

· 當(dāng)箱門打開(kāi)時(shí)，吊籃自動(dòng)停止傳送

· 緊急停機(jī)按鈕

· 試驗(yàn)超溫保護(hù)功能（熱區(qū)）

· 意外開(kāi)門保護(hù)開(kāi)關(guān)

· 冷區(qū)的氮?dú)鈬娚湎到y(tǒng)可以*大化地減少冷區(qū)蒸發(fā)器結(jié)霜，提高試驗(yàn)箱使用效率

主要標(biāo)準(zhǔn)

1 根據(jù)IEC 60068-3-5。通過(guò)選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來(lái)提高溫度變化速率。
2 有效測(cè)試空間中心點(diǎn)。
3 基于設(shè)置點(diǎn)；溫度范圍 –65 °C to +200 °C。
4 MIL-STD-883 E，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) D ，4.5 kg ICs 分布于2個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量。
5 MIL-STD-883 J，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) D，12 kg ICs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量。
6 MIL-STD-883 F，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) D，20 kg ICs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量。
7 MIL-STD-883 J，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) F，25 kg ICs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量。
8 MIL-STD-883 F，方法 1010.9，強(qiáng)度級(jí) F，50 kg ICs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測(cè)量。