Keysight(原Agilent) B2912A精密型電源主要特性與技術指標 JIANG
測量能力
• 支持雙通道配置
• 小電源分辨率：1 pA/1 μV，小測量分辨率： 100 fA/100 nV
• 大輸出：210 V、3 A 直流/10.5 A 脈沖
• 任意波形發(fā)生器和 20 μs 間隔的數(shù)字轉化能力
一般特性
• 綜合的 4 象限電源和測量能力
• 4.3 英寸彩色顯示屏支持圖形和數(shù)字顯示模式
• 免費的應用軟件有助于基于 PC 儀器的控制
• 高吞吐量和 SCPI 命令支持傳統(tǒng) SMU 命令集
Keysight(原Agilent) B2912A 描述
Keysight(原Agilent) B2902A 精密型電源/測量單元（SMU）作為雙通道、結構緊湊經濟高效的臺式 SMU，能夠輸出和測量電壓和電流?？奢p松地執(zhí)行 I/V（電流 vs 電壓）高精度測量。綜合 4 象限電源和測量能力無需配置多個儀器即可輕松便捷地進行 I/V 測量。一臺儀器即可提供廣泛的 210 V、3 A 直流/10.5 A 脈沖，從而將用戶的投資成本降至低。小的 100 fA/100 nV 測量分辨率可精確表征被測件。超大 4.3 英寸彩色顯示屏和各種顯示模式采用直觀操作，大大提高了測試、調試和表征的效率。
Keysight公司B2901/02/11/12A精確源表單元，兼顧電壓和電流的輸出和測量能力；覆蓋10 fA~3A(DC) / 10.5A (脈沖)的電流和從100nV - 210 V的電壓范圍，能夠比以往更準確、快速地完成IV曲線測量。此外，B2900A系列提供直觀的圖形顯示界面以及免費的測量軟件，是快速、準確地表征場效應 晶體管(FET)特性的高性價比方案。
一般來說，場效應晶體管的評估需要提供恒定或掃描的不同電壓、電流給柵極和漏極，以獲得相應參數(shù)和特性。
B2902A和B2912A有兩個SMU通道，每個通道都能精確地執(zhí)行IV測量。這使B2902A、B2912A成為IV測試的選擇。如下圖所示，您可以很容易地測量三端FET器件。
快速和容易的IV特征曲線測試
常規(guī)設備評估器件的IV特性必須編寫一個測試程序用于控制儀器能掃描輸出及讀回相應的測量值。B2900A系列源表有非常易用的用戶界面，便于進行各種測試保存測量數(shù)據(jù)而無需編寫任何代碼。大屏幕液晶顯示器支持多種查看模式：單一視圖，雙視圖，圖形視圖和滾動視圖(查看時間域測量)。完成測量后，可以使用圖形視圖觀察結果：如IV曲線以及使用測量對話窗口顯示測量結果的數(shù)據(jù)列表。前面板上的USB接口可以用來保存和加載測量設置以及保存測量結果。此外，圖形視圖也可保存屏幕圖像生成JPEG文件，以便制作報告和演示。
測量能力
• 支持雙通道配置
• 小電源分辨率：1 pA/1 μV，小測量分辨率： 100 fA/100 nV
• 大輸出：210 V、3 A 直流/10.5 A 脈沖
• 任意波形發(fā)生器和 20 μs 間隔的數(shù)字轉化能力
一般特性
• 綜合的 4 象限電源和測量能力
• 4.3 英寸彩色顯示屏支持圖形和數(shù)字顯示模式
• 免費的應用軟件有助于基于 PC 儀器的控制
• 高吞吐量和 SCPI 命令支持傳統(tǒng) SMU 命令集
Keysight(原Agilent) B2902A 描述
Keysight(原Agilent) B2902A 精密型電源/測量單元（SMU）作為雙通道、結構緊湊經濟高效的臺式 SMU，能夠輸出和測量電壓和電流?？奢p松地執(zhí)行 I/V（電流 vs 電壓）高精度測量。綜合 4 象限電源和測量能力無需配置多個儀器即可輕松便捷地進行 I/V 測量。一臺儀器即可提供廣泛的 210 V、3 A 直流/10.5 A 脈沖，從而將用戶的投資成本降至低。小的 100 fA/100 nV 測量分辨率可精確表征被測件。超大 4.3 英寸彩色顯示屏和各種顯示模式采用直觀操作，大大提高了測試、調試和表征的效率。
Keysight公司B2901/02/11/12A精確源表單元，兼顧電壓和電流的輸出和測量能力；覆蓋10 fA~3A(DC) / 10.5A (脈沖)的電流和從100nV - 210 V的電壓范圍，能夠比以往更準確、快速地完成IV曲線測量。此外，B2900A系列提供直觀的圖形顯示界面以及免費的測量軟件，是快速、準確地表征場效應 晶體管(FET)特性的高性價比方案。
一般來說，場效應晶體管的評估需要提供恒定或掃描的不同電壓、電流給柵極和漏極，以獲得相應參數(shù)和特性。
B2902A和B2912A有兩個SMU通道，每個通道都能精確地執(zhí)行IV測量。這使B2902A、B2912A成為IV測試的選擇。如下圖所示，您可以很容易地測量三端FET器件。
快速和容易的IV特征曲線測試
常規(guī)設備評估器件的IV特性必須編寫一個測試程序用于控制儀器能掃描輸出及讀回相應的測量值。B2900A系列源表有非常易用的用戶界面，便于進行各種測試保存測量數(shù)據(jù)而無需編寫任何代碼。大屏幕液晶顯示器支持多種查看模式：單一視圖，雙視圖，圖形視圖和滾動視圖(查看時間域測量)。完成測量后，可以使用圖形視圖觀察結果：如IV曲線以及使用測量對話窗口顯示測量結果的數(shù)據(jù)列表。
