IC芯片型號(hào)大全 常用IC存儲(chǔ)芯片型號(hào)大全
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磁變存儲(chǔ)器Z有潛力的代表是自旋轉(zhuǎn)移力矩磁變存儲(chǔ)器(STT MRAM)。既有動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(DRAM)和靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(SRAM)的高性能,又能兼顧閃存的低功耗優(yōu)勢(shì)。存儲(chǔ)單元主體為磁性隧道結(jié)(MTJ),有上下兩層磁性材料(如:鈷鐵合金)和中間的絕緣夾層(如:氧化鎂)所組成。其中一層為固定磁性層,另一層為自由磁性層。工作原理是由磁場(chǎng)調(diào)制上下兩層磁性層的磁化方向成為平行或反平行,從而建立兩個(gè)阻值各異的穩(wěn)定狀態(tài)。早期的磁性層磁矩平行于硅襯底表面,在尺寸縮小和成本方面缺乏競(jìng)爭(zhēng)力。近年來(lái)結(jié)構(gòu)上更優(yōu)化的垂直磁矩型隧道結(jié)使得大規(guī)模制造成為可能,從而可望克服成本問(wèn)題。但是此技術(shù)面臨的Z挑戰(zhàn)仍然是磁變電阻兩個(gè)狀態(tài)之間的電阻差異比較微弱,無(wú)法應(yīng)用到大容量的多位存儲(chǔ)技術(shù),大規(guī)模量產(chǎn)尚不明朗。TDK(日本)于2014年*展出了自旋轉(zhuǎn)移力矩磁變存儲(chǔ)器的原型,容量為8Mb,讀寫(xiě)速度是當(dāng)時(shí)NOR的7倍多(342MB/s VS 48MB/s)。那么IC產(chǎn)品型號(hào)有哪些呢 常用IC型號(hào)大全:
MLX90614ESF-BAA-000-TU、MLX90614ESF-DCI-000-TU、MRF151G、MLX90614ESF、MAX809SN490T1G、DSPIC30F6014A-30I/PF、K9LBG08U0M-PCBO、BGT24MTR11E6327XUMA1、
EN80C196KB16、LMG7420PLFC-X、MAX3841ETG、FW82801EB-SL73Z、TMP92CF26AXBG、218S7EBLA12FG、LE82GM965-SLA5T、SIS963LUA、M-L-DEFIANTQCB2-DB、MML09212HT1、T6UJ9XBG-0002-L、STM32F407IGT6、SE742、PCI9054-AB50PI、PA136PGD、OPA656U、OPA627AU、NDV8501B2、MT5301BANU-BMSL、MSD7819-S02-L1、MN2WS0177、MC68302FC20C、LMZ31710RVQT、LM12CLK、LM3S6965-IQC50-A2、LGE3549P、INA111BU、HI3-7159A-5、EP20K60EQC208-2XN、EP2C8QC8N、EP1S20F780I6、EM8622L-LF、EM8470、DS1609、DS34RT5110SQE、DAC9881SRGET、DAC8803IDBT、DAC3482IRKDT、CLRC632、CDCLVP2108RGZT、BQ76PL536ATPAPTQ1、AT84AD001BITD、AM82801IUX、AFE4490RHAT、ADS8365IOAGR、ATMEGA256016AU、AT89C51SND1C-IL、AML7215、AFE4490RHAT
相變存儲(chǔ)器是基于材料相變引起電阻變化的存儲(chǔ)器。結(jié)構(gòu)上有電阻加熱器和相變層所組成。通入重置(RESET)寫(xiě)電流后,電阻加熱器使得相變層溫度迅速升高,在達(dá)到相變層熔點(diǎn)后較短時(shí)間內(nèi),關(guān)閉寫(xiě)電流,使得材料快速冷卻,此時(shí)固定在非晶態(tài),為高阻態(tài)。為了使相變層材料重新回到晶態(tài),需要通入設(shè)置(SET)電流,相變層需要被加熱到結(jié)晶溫度和熔化溫度之間,使得晶核和微晶快速生長(zhǎng)。目前相變層材料的研究集中在GST系合金。由于重置寫(xiě)電流較大,相變存儲(chǔ)器的功耗較高,另外寫(xiě)電流時(shí)間較長(zhǎng),寫(xiě)速度較慢。尋找新型相變材料來(lái)降低寫(xiě)電流,同時(shí)加快寫(xiě)速度和減少熱擾動(dòng)成為急需解決的難題。美光(美國(guó))曾于2012年宣布1Gb和512Mb的相變內(nèi)存的*量產(chǎn),但是可能替代閃存的大容量相變存儲(chǔ)器由于各種技術(shù)原因,目前尚未問(wèn)世。
阻變存儲(chǔ)器作為Z重要的下一代新型存儲(chǔ)器,近十年來(lái)受到高度關(guān)注。阻變存儲(chǔ)器具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、高速、低功耗和易于三維集成等優(yōu)點(diǎn)。存儲(chǔ)單元結(jié)構(gòu)為上電極和下電極之間的電阻變化層。根據(jù)電阻變化層的材料,阻變存儲(chǔ)器可分為氧化物阻變存儲(chǔ)器和導(dǎo)電橋接存儲(chǔ)器。前者研究較為廣泛,*上已有數(shù)家公司展示了原型產(chǎn)品。2015年初 Crossbar(美國(guó))宣布其阻變存儲(chǔ)器開(kāi)始進(jìn)入商業(yè)化階段,初期準(zhǔn)備面向嵌入式市場(chǎng),同時(shí)正加速進(jìn)行容量更大的下一代阻變存儲(chǔ)器研發(fā),預(yù)計(jì)于2017年面世。美光(美國(guó))和索尼(日本)也在開(kāi)展阻變存儲(chǔ)器的聯(lián)合研發(fā)。從2007年起,每年半導(dǎo)體鄰域的幾個(gè)重要*會(huì)議(如IEDM和VLSI)均會(huì)報(bào)道 的研發(fā)進(jìn)展。 2014年美光公布了27nm基于CMOS工藝制造的單顆容量16Gb阻變存儲(chǔ)器原型,但目前距離量產(chǎn)仍有較大距離。大規(guī)模量產(chǎn)的Z挑戰(zhàn)是實(shí)現(xiàn)較好的均勻性,提高產(chǎn)品良率和可靠性。另外,多位存儲(chǔ)的要求對(duì)電阻變化層的材料也提出了嚴(yán)峻的考驗(yàn)。大規(guī)模提高阻變存儲(chǔ)器容量,需要材料和結(jié)構(gòu)的進(jìn)一步優(yōu)化和創(chuàng)新。