奧林巴斯原裝38DL PLUS超聲波測厚儀
注：所有價格以實際咨詢?yōu)闇?br style="-webkit-tap-highlight-color: transparent; -webkit-appearance: none; margin: 0px;" /> 歡迎廣大客戶來咨詢 183**6840**9452?
奧林巴斯超聲波測厚儀38DL PLUS
■雙晶與單晶探頭
■堅固耐用，設(shè)計符合IP67標準
■厚度測量范圍0.08毫米到635毫米
■彩色透反VGA顯示
對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進行厚度測量
用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率
為0.001毫米的極其精確的厚度測量。
•對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
•在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。
•高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
•多層軟件選項可對多達4個不同層的厚度同時進行測量。
•測量厚度、聲速或渡越時間。
•帶有默認設(shè)置和自定義設(shè)置的自動調(diào)用應(yīng)用簡化了厚度測量操作。
高穿透軟件選項
用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。
多層軟件選項
這個軟件選項計算并同時顯示多達4個不同層的厚度測量值。這個功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應(yīng)用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進行的厚度測量。
主要特性
■可與雙晶和單晶探頭兼容。
■寬泛的厚度測量范圍: 0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
■使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
■穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
■內(nèi)部氧化皮/沉積物軟件選項。
■對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
■使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
■多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
■高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
■厚度、聲速和渡越時間測量。
■差分模式和縮減率模式。
■時基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
■帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
■用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
■設(shè)計符合EN15317標準
奧林巴斯原裝38DL PLUS超聲波測厚儀 技術(shù)規(guī)格
測量
雙晶探頭測量模式從激勵脈沖后的精確延時到*個回波之間的時間間隔。
穿透涂層測量模式
利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。
穿透漆層回波到回波測量模式在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
單晶探頭測量模式
模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。
模式2：延遲線回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時
間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
氧化皮模式：可選。
多層模式：可選。
厚度范圍0.080 mm～635.00 mm，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。
材料聲速范圍0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
分辨率（可選擇）
低分辨率：0.1 mm
標準分辨率：0.01 mm
高分辨率（可選項）：0.001 mm
探頭頻率范圍
標準：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB）
高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）
